| Titre : | Contribution à la Définition des Spécifications d'un Outil d'Aide à la Conception Automatique de Systèmes Electroniques Intégrés Robustes | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | R. PEREZ, Auteur | | Année de publication : | 2004 | | Langues : | Français (fre) | | Tags : | CIRCUITS DURCIS CONCEPTION ROBUSTE EFFETS SINGULIERS ALEA TRANSITOIRE PARTICULES RADIATIONS BASCULE MEMOIRE FIABILITE VULNERABILITE DURCISSEMENT ERREUR LOGIQUE HARDENED CIRCUITS ROBUST DESIGN SINGLE EVENT UPSET SINGLE EVENT TRANSIENT PARTICLES RADIATION FLIP-FLOP MEMORY RELIABILITY VULNERABILITY HARDENING SOFT ERROR GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | La miniaturisation croissante des composants électroniques accroît considérablement la vulnérabilité des systèmes intégrés aux agressions externes (particules et radiations) qui se manifestent par des perturbations aléatoires singulières (aléas) de type Single Event Upset (SEU) ou Single Event Transient (SET). Protéger les circuits contre ces effets ne peut plus rester uniquement la préoccupation de concepteurs confrontés à des milieux hostiles particuliers tels les environnements nucléaire et/ou spatial. Les conceptions durcies doivent s'adapter à des contraintes nouvelles de performance et de fiabilité liées à leur utilisation dans des applications commerciales critiques même au niveau terrestre. Les outils de CAO confrontés à ces problématiques doivent les prendre en compte et permettre une évaluation rapide de la sensibilité des circuits, tout en proposant des solutions de durcissement adaptées à ces nouvelles contraintes. Cette thèse s'intéresse en première partie aux SEU. Elle aborde la question de la réalisation de bascules durcies au niveau composant, aptes à être rapidement substituées, en production, aux bascules standard des bibliothèques de cellules, avec pour perspective la réalisation de bibliothèques robustes. La deuxième partie est dédiée à l'étude du phénomène de SET et de sa propagation dans un système. Elle met en évidence la nécessité de prendre en compte un terme correctif au cours de cette propagation, terme corrélé à la nature de la porte concernée. Une modélisation du phénomène est développée et conduit à des critères d'établissement et de transit. Validés par des tests radiatifs sur prototype, ils permettent d'anticiper la vulnérabilité des circuits.
The drastic shrinking of size in electronic devices increases the vulnerability of integrated systems to external disturbances (particles and radiation) by making them sensitive to both Single Event Upset (SEU) and Single Event Transients (SET). The circuit protection against these effects can not became exclusively the concern of peculiar designers involved in the hardening of circuits submitted to harsh environment (like space or nuclear surroundings). The robust designs must be adapted to new efficiency and reliability constraints linked to their use in critical commercial applications even at ground level. CAD tools brought into these problems have to consider them by enabling a fast evaluation of circuit sensitivity and then proposing hardened solutions adapted to these new constraints. The drastic shrinking of size in electronic devices increases the vulnerability of integrated systems to external disturbances (particles and radiation) by making them sensitive to both Single Event Upset (SEU) and Single Event Transients (SET). The circuit protection against these effects can not became exclusively the concern of peculiar designers involved in the hardening of circuits submitted to harsh environment (like space or nuclear surroundings). The robust designs must be adapted to new efficiency and reliability constraints linked to their use in critical commercial applications even at ground level. CAD tools brought into these problems have to consider them by enabling a fast evaluation of circuit sensitivity and then proposing hardened solutions adapted to these new constraints. | | Directeur(s) de thèse : | ROCHE F. | | Président du jury : | FOUILLAT P. | | Rapporteur(s) : | SONZA-REORDA M. | | Examinateur(s) : | NOUET P.;NICOLAIDIS M.;PIGNOL M. | | Date de soutenance : | 17/12/2004 |
Contribution à la Définition des Spécifications d'un Outil d'Aide à la Conception Automatique de Systèmes Electroniques Intégrés Robustes [texte imprimé] / R. PEREZ, Auteur . - 2004. Langues : Français ( fre) | Tags : | CIRCUITS DURCIS CONCEPTION ROBUSTE EFFETS SINGULIERS ALEA TRANSITOIRE PARTICULES RADIATIONS BASCULE MEMOIRE FIABILITE VULNERABILITE DURCISSEMENT ERREUR LOGIQUE HARDENED CIRCUITS ROBUST DESIGN SINGLE EVENT UPSET SINGLE EVENT TRANSIENT PARTICLES RADIATION FLIP-FLOP MEMORY RELIABILITY VULNERABILITY HARDENING SOFT ERROR GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | La miniaturisation croissante des composants électroniques accroît considérablement la vulnérabilité des systèmes intégrés aux agressions externes (particules et radiations) qui se manifestent par des perturbations aléatoires singulières (aléas) de type Single Event Upset (SEU) ou Single Event Transient (SET). Protéger les circuits contre ces effets ne peut plus rester uniquement la préoccupation de concepteurs confrontés à des milieux hostiles particuliers tels les environnements nucléaire et/ou spatial. Les conceptions durcies doivent s'adapter à des contraintes nouvelles de performance et de fiabilité liées à leur utilisation dans des applications commerciales critiques même au niveau terrestre. Les outils de CAO confrontés à ces problématiques doivent les prendre en compte et permettre une évaluation rapide de la sensibilité des circuits, tout en proposant des solutions de durcissement adaptées à ces nouvelles contraintes. Cette thèse s'intéresse en première partie aux SEU. Elle aborde la question de la réalisation de bascules durcies au niveau composant, aptes à être rapidement substituées, en production, aux bascules standard des bibliothèques de cellules, avec pour perspective la réalisation de bibliothèques robustes. La deuxième partie est dédiée à l'étude du phénomène de SET et de sa propagation dans un système. Elle met en évidence la nécessité de prendre en compte un terme correctif au cours de cette propagation, terme corrélé à la nature de la porte concernée. Une modélisation du phénomène est développée et conduit à des critères d'établissement et de transit. Validés par des tests radiatifs sur prototype, ils permettent d'anticiper la vulnérabilité des circuits.
The drastic shrinking of size in electronic devices increases the vulnerability of integrated systems to external disturbances (particles and radiation) by making them sensitive to both Single Event Upset (SEU) and Single Event Transients (SET). The circuit protection against these effects can not became exclusively the concern of peculiar designers involved in the hardening of circuits submitted to harsh environment (like space or nuclear surroundings). The robust designs must be adapted to new efficiency and reliability constraints linked to their use in critical commercial applications even at ground level. CAD tools brought into these problems have to consider them by enabling a fast evaluation of circuit sensitivity and then proposing hardened solutions adapted to these new constraints. The drastic shrinking of size in electronic devices increases the vulnerability of integrated systems to external disturbances (particles and radiation) by making them sensitive to both Single Event Upset (SEU) and Single Event Transients (SET). The circuit protection against these effects can not became exclusively the concern of peculiar designers involved in the hardening of circuits submitted to harsh environment (like space or nuclear surroundings). The robust designs must be adapted to new efficiency and reliability constraints linked to their use in critical commercial applications even at ground level. CAD tools brought into these problems have to consider them by enabling a fast evaluation of circuit sensitivity and then proposing hardened solutions adapted to these new constraints. | | Directeur(s) de thèse : | ROCHE F. | | Président du jury : | FOUILLAT P. | | Rapporteur(s) : | SONZA-REORDA M. | | Examinateur(s) : | NOUET P.;NICOLAIDIS M.;PIGNOL M. | | Date de soutenance : | 17/12/2004 |
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