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Affiner la recherche Interroger des sources externesMéthodes et Algorithmes pour le Test Intégré de Circuits VLSI Combinatoires / C. FAGOT
Titre : Méthodes et Algorithmes pour le Test Intégré de Circuits VLSI Combinatoires Type de document : texte imprimé Auteurs : C. FAGOT, Auteur Année de publication : 2000 Langues : Français (fre) Tags : TEST INTEGRE CIRCUITS COMBINATOIRES ALGORITHMES GLOUTONS Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GASCUEL O. Rapporteur(s) : CROCHEMORE M.;HELLEBRAND S.;MAZARE G. Examinateur(s) : GIRARD P.;GREINER A.;HABIB M. Date de soutenance : 24/01/2000 Méthodes et Algorithmes pour le Test Intégré de Circuits VLSI Combinatoires [texte imprimé] / C. FAGOT, Auteur . - 2000.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST INTEGRE CIRCUITS COMBINATOIRES ALGORITHMES GLOUTONS Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GASCUEL O. Rapporteur(s) : CROCHEMORE M.;HELLEBRAND S.;MAZARE G. Examinateur(s) : GIRARD P.;GREINER A.;HABIB M. Date de soutenance : 24/01/2000 Réservation
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