| Titre : | Contribution à l'Analyse de la Fiabilité des Microsystèmes - Prise en Compte des Contraintes liées à l'Environnement Spatial | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | M. DARDALHON, Auteur | | Année de publication : | 2003 | | Langues : | Français (fre) | | Tags : | MICROSYSTEMES ANALYSE DE FIABILITE ESPACE TESTS ENVIRONNEMENTAUX STRUCTURE DE TEST MEMS MICROSYSTEMES ANALYSE DE FIABILITE ESPACE TESTS ENVIRONNEMENTAUX STRUCTURES DE TEST MEMS FAILURE ANALYSIS SPACE APPLICATIONS ENVIRONMENTAL TESTS TEST STRUCTURES GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Bien que les microsystèmes soient encore absents des systèmes spatiaux, l'intérêt que leur porte l'industrie est grandissant car ils apparaissent comme une solution adéquate pour réduire le coût des missions tout en conservant l'intégrité de celle-ci grâce notamment à une réduction d'échelle (dimensions, volume, masse, consommation). Cependant, un système aussi intéressant soit-il pour les équipementiers doit être capable de remplir sa mission en ayant une fiabilité maîtrisée, contrôlée et prévisible. Or, il s'avère que la complexité des microsystèmes, l'hétérogénéité des matériaux utilisés et les interfaces avec l'environnement extérieur constituent de nouvelles inconnues concernant la fiabilité. Par conséquent, l'objectif de ces travaux était de mettre en place des outils au sens le plus large du terme pour évaluer la fiabilité d'un microsystème quel que soit son niveau de développement. Pour cela, nous avons : · développé des structures de test élémentaires et mis en œuvre des équipements d'analyse paramétrique afin d'évaluer la fiabilité d'un procédé de fabrication en cours de développement, · proposé un véhicule de test représentatif du comportement d'un système complet dans une technologie de maturité plus avancée, · développé des procédures de test pour des prototypes en cours de développement sous différentes contraintes environnementales et fonctionnelles, · transposé ces procédures pour l'évaluation d'un microsystème commercial ou MOTS (Mems-Off-The-Shelf).
Even if microsystems are not still present in space applications, industrial interest is growing because they are considered to be an appropriate solution to reduce missions cost with integrity conservation thanks notably to scale reductions (size, volume, mass, consumption). However, even if a system appears to be very interesting for manufacturers, it must be able to fulfil its mission and possess a controlled and foreseeable reliability. In consequence, objectives of this work were to develop some tools to evaluate the reliability of a microsystem whatever its development level. Thus, we have : - developed basic test structures and maked use of parametric analysis equipments to evaluate the reliability of a process under development - proposed a representative test vehicle for a complete system behaviour in a more mature technology - developed test procedures for prototypes under development under both environmental and functional stresses - translated these procedures for MOTS (Mems-Off- The-Shelf) or commercial microsystem evaluation | | Directeur(s) de thèse : | NOUET P. | | Rapporteur(s) : | ESTEVE D.;PELLET C. | | Examinateur(s) : | FOUCARAN A.;OUDEA C.;PRESSECQ F. | | Invité(s) : | PEREZ G.;LATORRE L. | | Date de soutenance : | 17/12/2003 |
Contribution à l'Analyse de la Fiabilité des Microsystèmes - Prise en Compte des Contraintes liées à l'Environnement Spatial [texte imprimé] / M. DARDALHON, Auteur . - 2003. Langues : Français ( fre) | Tags : | MICROSYSTEMES ANALYSE DE FIABILITE ESPACE TESTS ENVIRONNEMENTAUX STRUCTURE DE TEST MEMS MICROSYSTEMES ANALYSE DE FIABILITE ESPACE TESTS ENVIRONNEMENTAUX STRUCTURES DE TEST MEMS FAILURE ANALYSIS SPACE APPLICATIONS ENVIRONMENTAL TESTS TEST STRUCTURES GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Bien que les microsystèmes soient encore absents des systèmes spatiaux, l'intérêt que leur porte l'industrie est grandissant car ils apparaissent comme une solution adéquate pour réduire le coût des missions tout en conservant l'intégrité de celle-ci grâce notamment à une réduction d'échelle (dimensions, volume, masse, consommation). Cependant, un système aussi intéressant soit-il pour les équipementiers doit être capable de remplir sa mission en ayant une fiabilité maîtrisée, contrôlée et prévisible. Or, il s'avère que la complexité des microsystèmes, l'hétérogénéité des matériaux utilisés et les interfaces avec l'environnement extérieur constituent de nouvelles inconnues concernant la fiabilité. Par conséquent, l'objectif de ces travaux était de mettre en place des outils au sens le plus large du terme pour évaluer la fiabilité d'un microsystème quel que soit son niveau de développement. Pour cela, nous avons : · développé des structures de test élémentaires et mis en œuvre des équipements d'analyse paramétrique afin d'évaluer la fiabilité d'un procédé de fabrication en cours de développement, · proposé un véhicule de test représentatif du comportement d'un système complet dans une technologie de maturité plus avancée, · développé des procédures de test pour des prototypes en cours de développement sous différentes contraintes environnementales et fonctionnelles, · transposé ces procédures pour l'évaluation d'un microsystème commercial ou MOTS (Mems-Off-The-Shelf).
Even if microsystems are not still present in space applications, industrial interest is growing because they are considered to be an appropriate solution to reduce missions cost with integrity conservation thanks notably to scale reductions (size, volume, mass, consumption). However, even if a system appears to be very interesting for manufacturers, it must be able to fulfil its mission and possess a controlled and foreseeable reliability. In consequence, objectives of this work were to develop some tools to evaluate the reliability of a microsystem whatever its development level. Thus, we have : - developed basic test structures and maked use of parametric analysis equipments to evaluate the reliability of a process under development - proposed a representative test vehicle for a complete system behaviour in a more mature technology - developed test procedures for prototypes under development under both environmental and functional stresses - translated these procedures for MOTS (Mems-Off- The-Shelf) or commercial microsystem evaluation | | Directeur(s) de thèse : | NOUET P. | | Rapporteur(s) : | ESTEVE D.;PELLET C. | | Examinateur(s) : | FOUCARAN A.;OUDEA C.;PRESSECQ F. | | Invité(s) : | PEREZ G.;LATORRE L. | | Date de soutenance : | 17/12/2003 |
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