| Titre : | Evolution vers des Architectures de Systèmes Intégrés Auto-Adaptatives et Tolérantes aux Variations Technologiques et Environnementales | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Bettina REBAUD, Auteur | | Année de publication : | 2009 | | Langues : | Français (fre) | | Tags : | VARIABILITE ANALYSES TEMPORELLES STATISTIQUES MARGES DE CONCEPTION SYSTEMES ADAPTATIFS CAPTEURS CHEMINS CRITIQUES | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Avec l'évolution des technologies micro-électroniques, il devient de plus en plus délicat d'optimiser ou seulement de prédire les performances finales des circuits numériques. En effet, à l'approche des dimensions nanométriques, les phénomènes de variabilité introduisent un degré d'incertitude supplémentaire. Les méthodes de conception actuelles utilisent généralement des marges de garde afin de prévenir les incertitudes et garantir la fonctionnalité du circuit. Mais ces marges reflètent de moins en moins la réalité du circuit, empêchant dès lors les optimisations et baissant le rendement des circuits. Ces difficultés deviennent prépondérantes lorsque l'on vise une optimisation de la consommation des circuits. Deux types de solutions complémentaires sont proposés afin de surmonter ces difficultés : l'augmentation de la robustesse aux incertitudes durant la phase de conception et l'adaptation dynamique du circuit fabriqué en fonction de son état technologique et de son environnement. Dans ce travail de thèse, nous avons approché ces deux concepts : en utilisant (1) une méthodologie d'analyse statistique SSTA (Statistical Static Timing Analysis) nous permettant d'examiner finement les effets des variations dans le respect des contraintes temporelles ; et en proposant (2) un système de diagnostique basé sur l'observabilité de chemins critiques et (3) sa mise en œuvre dans un flot de conception et dans un démonstrateur en technologie 45 nm. Les solutions proposées ont montré qu'il est possible de s'ajuster au plus près, grâce à des techniques adaptatives, des caractéristiques réelles du circuit en rognant sur les marges de conception, et d'améliorer les performances en fréquence et consommation. | | Directeur(s) de thèse : | ROBERT M. | | Président du jury : | CATHEBRAS G. | | Rapporteur(s) : | PIGUET C.;SICARD E. | | Examinateur(s) : | AZEMARD N.;BEIGNE E.;BELLEVILLE M.;MAURINE P. | | Invité(s) : | BERNARD C.;WILSON R. | | Date de soutenance : | 09/12/2009 |
Evolution vers des Architectures de Systèmes Intégrés Auto-Adaptatives et Tolérantes aux Variations Technologiques et Environnementales [texte imprimé] / Bettina REBAUD, Auteur . - 2009. Langues : Français ( fre) | Tags : | VARIABILITE ANALYSES TEMPORELLES STATISTIQUES MARGES DE CONCEPTION SYSTEMES ADAPTATIFS CAPTEURS CHEMINS CRITIQUES | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Avec l'évolution des technologies micro-électroniques, il devient de plus en plus délicat d'optimiser ou seulement de prédire les performances finales des circuits numériques. En effet, à l'approche des dimensions nanométriques, les phénomènes de variabilité introduisent un degré d'incertitude supplémentaire. Les méthodes de conception actuelles utilisent généralement des marges de garde afin de prévenir les incertitudes et garantir la fonctionnalité du circuit. Mais ces marges reflètent de moins en moins la réalité du circuit, empêchant dès lors les optimisations et baissant le rendement des circuits. Ces difficultés deviennent prépondérantes lorsque l'on vise une optimisation de la consommation des circuits. Deux types de solutions complémentaires sont proposés afin de surmonter ces difficultés : l'augmentation de la robustesse aux incertitudes durant la phase de conception et l'adaptation dynamique du circuit fabriqué en fonction de son état technologique et de son environnement. Dans ce travail de thèse, nous avons approché ces deux concepts : en utilisant (1) une méthodologie d'analyse statistique SSTA (Statistical Static Timing Analysis) nous permettant d'examiner finement les effets des variations dans le respect des contraintes temporelles ; et en proposant (2) un système de diagnostique basé sur l'observabilité de chemins critiques et (3) sa mise en œuvre dans un flot de conception et dans un démonstrateur en technologie 45 nm. Les solutions proposées ont montré qu'il est possible de s'ajuster au plus près, grâce à des techniques adaptatives, des caractéristiques réelles du circuit en rognant sur les marges de conception, et d'améliorer les performances en fréquence et consommation. | | Directeur(s) de thèse : | ROBERT M. | | Président du jury : | CATHEBRAS G. | | Rapporteur(s) : | PIGUET C.;SICARD E. | | Examinateur(s) : | AZEMARD N.;BEIGNE E.;BELLEVILLE M.;MAURINE P. | | Invité(s) : | BERNARD C.;WILSON R. | | Date de soutenance : | 09/12/2009 |
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