| Titre : | Test Intégré de Circuits Cryptographiques | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Marion DOULCIER, Auteur | | Année de publication : | 2008 | | Langues : | Français (fre) | | Tags : | TEST INTEGRE CARTE A PUCE CRYPTOGRAPHIE AUTOTEST TEST EN LIGNE BUILT-IN SELF TEST SMARTCARD CRYPTOGRAPHY SELF TEST ON-LINE TEST GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Parce que les architectures de test classiques visent principalement à accroître la contrôlabilité et l'observabilité des données manipulées par le système matériel, elles sont identifiées comme sources potentielles de manipulations frauduleuses lorsqu'elles sont mises en oeuvre dans des systèmes traitant de sécurité numérique. Les dispositifs sécurisés demandent donc de développer des moyens de test adaptés. Ce rapport de thèse présente des solutions de test pour systèmes intégrés de chiffrement en s'attachant à la fois aux tests exécutés en fin de production ou en maintenance, et aux tests effectués en cours du fonctionnement. En ce qui concerne les tests exécutés hors fonctionnement normal, l'approche préconisée s'appuie sur un autotest intégré. Il présente les avantages cumulés de limiter l'accès aux moyens de test intégrés au système, il préserve donc la sécurité des données, d'effectuer un test de qualité, il garantit donc un bon fonctionnement du système, et enfin de ne demander que très peu de ressources additionnelles. Profitant des propriétés inhérentes aux algorithmes de chiffrement (diffusion, confusion, itération) et des implantations matérielles qui en découlent (architectures rebouclées), des solutions d'autotest sont proposées pour des coeurs DES et AES. Il est aussi démontré comment les réutiliser pour générer les vecteurs de test d'autres ressources matérielles du système et analyser leurs réponses. Pour ce qui concerne les tests exécutés en cours de fonctionnement, l'architecture particulière des coeurs de chiffrement est à nouveau mise à profit pour de la détection de fautes en ligne basée sur de la redondance d'information ou de matériel.
Because the conventional test architectures are mainly designed to increase the controllability and observability of the signals, they are identified as potential sources of attacks when implemented in systems dealing with digital security. It is then necessary to develop appropriate test methods. This thesis presents test solutions for encryption systems focusing on both tests performed at the end of production or maintenance, and tests carried out during the mission mode. Regarding off-line tests performed after production or in-situ, the approach relies on an integrated self-test schemes. It presents the combined advantages of limiting the access to internal data, and thus preserves data security, conducting a test of high quality, thus it guarantees the proper system behavior, and finally requiring only very little additional resources. Taking advantage of inherent properties of encryption algorithms (diffusion, confusion, iteration) and their physical implementations (feedback architectures), self-test solutions are proposed for DES and AES cores. It is also demonstrated how such crypto-cores can be used as test resources for other cores in the system. Regarding the tests performed during the functional mode, the proposed approach allows the detection of faults using different forms of duplication (information or hardware redundancies).** | | Directeur(s) de thèse : | ROUZEYRE B. | | Co-directeur(s) de thèse : | FLOTTES M.L. | | Rapporteur(s) : | SENTIEYS M.;LEVEUGLE M. | | Examinateur(s) : | TORRES L.;TRIA M. | | Date de soutenance : | 24/11/2008 |
Test Intégré de Circuits Cryptographiques [texte imprimé] / Marion DOULCIER, Auteur . - 2008. Langues : Français ( fre) | Tags : | TEST INTEGRE CARTE A PUCE CRYPTOGRAPHIE AUTOTEST TEST EN LIGNE BUILT-IN SELF TEST SMARTCARD CRYPTOGRAPHY SELF TEST ON-LINE TEST GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Parce que les architectures de test classiques visent principalement à accroître la contrôlabilité et l'observabilité des données manipulées par le système matériel, elles sont identifiées comme sources potentielles de manipulations frauduleuses lorsqu'elles sont mises en oeuvre dans des systèmes traitant de sécurité numérique. Les dispositifs sécurisés demandent donc de développer des moyens de test adaptés. Ce rapport de thèse présente des solutions de test pour systèmes intégrés de chiffrement en s'attachant à la fois aux tests exécutés en fin de production ou en maintenance, et aux tests effectués en cours du fonctionnement. En ce qui concerne les tests exécutés hors fonctionnement normal, l'approche préconisée s'appuie sur un autotest intégré. Il présente les avantages cumulés de limiter l'accès aux moyens de test intégrés au système, il préserve donc la sécurité des données, d'effectuer un test de qualité, il garantit donc un bon fonctionnement du système, et enfin de ne demander que très peu de ressources additionnelles. Profitant des propriétés inhérentes aux algorithmes de chiffrement (diffusion, confusion, itération) et des implantations matérielles qui en découlent (architectures rebouclées), des solutions d'autotest sont proposées pour des coeurs DES et AES. Il est aussi démontré comment les réutiliser pour générer les vecteurs de test d'autres ressources matérielles du système et analyser leurs réponses. Pour ce qui concerne les tests exécutés en cours de fonctionnement, l'architecture particulière des coeurs de chiffrement est à nouveau mise à profit pour de la détection de fautes en ligne basée sur de la redondance d'information ou de matériel.
Because the conventional test architectures are mainly designed to increase the controllability and observability of the signals, they are identified as potential sources of attacks when implemented in systems dealing with digital security. It is then necessary to develop appropriate test methods. This thesis presents test solutions for encryption systems focusing on both tests performed at the end of production or maintenance, and tests carried out during the mission mode. Regarding off-line tests performed after production or in-situ, the approach relies on an integrated self-test schemes. It presents the combined advantages of limiting the access to internal data, and thus preserves data security, conducting a test of high quality, thus it guarantees the proper system behavior, and finally requiring only very little additional resources. Taking advantage of inherent properties of encryption algorithms (diffusion, confusion, iteration) and their physical implementations (feedback architectures), self-test solutions are proposed for DES and AES cores. It is also demonstrated how such crypto-cores can be used as test resources for other cores in the system. Regarding the tests performed during the functional mode, the proposed approach allows the detection of faults using different forms of duplication (information or hardware redundancies).** | | Directeur(s) de thèse : | ROUZEYRE B. | | Co-directeur(s) de thèse : | FLOTTES M.L. | | Rapporteur(s) : | SENTIEYS M.;LEVEUGLE M. | | Examinateur(s) : | TORRES L.;TRIA M. | | Date de soutenance : | 24/11/2008 |
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