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Affiner la recherche Interroger des sources externesDiagnostic de Fautes dans un Circuit Combinatoire à l'Aide d'Expériences de Test Partiellement Aléatoire / LIU JIN MING
Titre : Diagnostic de Fautes dans un Circuit Combinatoire à l'Aide d'Expériences de Test Partiellement Aléatoire Type de document : texte imprimé Auteurs : LIU JIN MING, Auteur Année de publication : 1990 Langues : Français (fre) Tags : TEST CIRCUIT V.L.S.I. ALGORITHME DIAGNOSTIC TEST PSEUDO-ALEATOIRE PARTITIONNEMENT TEST PARTIELLEMENT ALEATOIRE EXPERIENCE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90038 Président du jury : COSTES A. Examinateur(s) : DAVID R.;LANDRAULT C.;PILAUD E.;THEVENOD/FOSSE P. Date de soutenance : 15/06/1990 Diagnostic de Fautes dans un Circuit Combinatoire à l'Aide d'Expériences de Test Partiellement Aléatoire [texte imprimé] / LIU JIN MING, Auteur . - 1990.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST CIRCUIT V.L.S.I. ALGORITHME DIAGNOSTIC TEST PSEUDO-ALEATOIRE PARTITIONNEMENT TEST PARTIELLEMENT ALEATOIRE EXPERIENCE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90038 Président du jury : COSTES A. Examinateur(s) : DAVID R.;LANDRAULT C.;PILAUD E.;THEVENOD/FOSSE P. Date de soutenance : 15/06/1990 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-90 / 3389 Papier THESES NON CLASSES Disponible Méthodes et Algorithmes pour le Test Intégré de Circuits VLSI Combinatoires / C. FAGOT
Titre : Méthodes et Algorithmes pour le Test Intégré de Circuits VLSI Combinatoires Type de document : texte imprimé Auteurs : C. FAGOT, Auteur Année de publication : 2000 Langues : Français (fre) Tags : TEST INTEGRE CIRCUITS COMBINATOIRES ALGORITHMES GLOUTONS Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GASCUEL O. Rapporteur(s) : CROCHEMORE M.;HELLEBRAND S.;MAZARE G. Examinateur(s) : GIRARD P.;GREINER A.;HABIB M. Date de soutenance : 24/01/2000 Méthodes et Algorithmes pour le Test Intégré de Circuits VLSI Combinatoires [texte imprimé] / C. FAGOT, Auteur . - 2000.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST INTEGRE CIRCUITS COMBINATOIRES ALGORITHMES GLOUTONS Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GASCUEL O. Rapporteur(s) : CROCHEMORE M.;HELLEBRAND S.;MAZARE G. Examinateur(s) : GIRARD P.;GREINER A.;HABIB M. Date de soutenance : 24/01/2000 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-00 / 6662 Papier THESES INFORMATIQUE Disponible Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité / V. PREPIN
Titre : Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité Type de document : texte imprimé Auteurs : V. PREPIN, Auteur Année de publication : 1997 Langues : Français (fre) Tags : TEST PSEUDO-ALEATOIRE TESTABILITE COUVERTURE DE FAUTES LONGUEUR DE TEST SIMULATION COURTE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : NICOLAIDIS M. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;THEVENOD-FOSSE P. Examinateur(s) : DAVID R.;JACOMINO M. Date de soutenance : 02/07/1997 Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité [texte imprimé] / V. PREPIN, Auteur . - 1997.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST PSEUDO-ALEATOIRE TESTABILITE COUVERTURE DE FAUTES LONGUEUR DE TEST SIMULATION COURTE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : NICOLAIDIS M. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;THEVENOD-FOSSE P. Examinateur(s) : DAVID R.;JACOMINO M. Date de soutenance : 02/07/1997 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-97 / 6070 Papier THESES NON CLASSES Disponible

