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Affiner la recherche Interroger des sources externesAnalyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons / D. SAVART
Titre : Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimé Auteurs : D. SAVART, Auteur Année de publication : 1990 Langues : Français (fre) Tags : MICROSCOPIE TEST CIRCUIT V.L.S.I. ANALYSE DE DEFAILLANCES CIRCUITS INTEGRES TEST SANS CONTACT TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons [texte imprimé] / D. SAVART, Auteur . - 1990.
Langues : Français (fre)
Tags : MICROSCOPIE TEST CIRCUIT V.L.S.I. ANALYSE DE DEFAILLANCES CIRCUITS INTEGRES TEST SANS CONTACT TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-90 / 3444 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
Titre : Contribution à l'Assignement Technologique Contrôlé par les Performances. Type de document : texte imprimé Auteurs : S. AMAT, Auteur Année de publication : 1993 Langues : Français (fre) Tags : TECHNOLOGIE CMOS PREDICTION DES PERFORMANCES CIRCUITS INTEGRES ASSIGNEMENT TECHNOLOGIQUE OPTIMISATION ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : AUVERGNE D. Président du jury : LANDRAULT C. Rapporteur(s) : DEMASSIEUX N.;GUYOT A. Examinateur(s) : ROBERT M.;AZEMARD N. Date de soutenance : 12/07/1993 Contribution à l'Assignement Technologique Contrôlé par les Performances. [texte imprimé] / S. AMAT, Auteur . - 1993.
Langues : Français (fre)
Tags : TECHNOLOGIE CMOS PREDICTION DES PERFORMANCES CIRCUITS INTEGRES ASSIGNEMENT TECHNOLOGIQUE OPTIMISATION ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : AUVERGNE D. Président du jury : LANDRAULT C. Rapporteur(s) : DEMASSIEUX N.;GUYOT A. Examinateur(s) : ROBERT M.;AZEMARD N. Date de soutenance : 12/07/1993 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-93 / 5214 Papier THESES NON CLASSES Disponible
Titre : Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimé Auteurs : D. CONARD, Auteur Année de publication : 1991 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT MICROSCOPIE FAISCEAU TEST CIRCUITS INTEGRES ANALYSE DE DEFAILLANCES TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES RECONNAISSANCE DE FORMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91033 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : CHEHIKIAN A.;CHION A.;COURTOIS B.;SARFATI M.;SECOURGEON M. Invité(s) : LAURENT J. Date de soutenance : 11/02/1991 Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons [texte imprimé] / D. CONARD, Auteur . - 1991.
Langues : Français (fre)
Tags : CIRCUIT MICROSCOPIE FAISCEAU TEST CIRCUITS INTEGRES ANALYSE DE DEFAILLANCES TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES RECONNAISSANCE DE FORMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91033 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : CHEHIKIAN A.;CHION A.;COURTOIS B.;SARFATI M.;SECOURGEON M. Invité(s) : LAURENT J. Date de soutenance : 11/02/1991 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-91 / 3515 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
