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Réduction de Puissance durant le Test par Scan des Circuits Intégrés / Nabil BABEREDDINE

Public ISBD Titre : Réduction de Puissance durant le Test par Scan des Circuits Intégrés Type de document : texte imprimé Auteurs : Nabil BABEREDDINE, Auteur Année de publication : 2006 Langues : Français (fre) Tags : TEST  SCAN  TEST FAIBLE CONSOMMATION  CONSOMMATION DE PUISSANCE DE PIC  COMPRESSION DE DONNEES  GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GIRARD P. Président du jury : PRAVOSSOUDOVITCH S. Examinateur(s) : SENTIEYS O.;SONZA REORDA M.;VIRAZEL A.;VRIGNAUD J.M. Date de soutenance : 15/09/2006 Réduction de Puissance durant le Test par Scan des Circuits Intégrés [texte imprimé] / Nabil BABEREDDINE, Auteur . - 2006. Langues : Français (fre) Tags : TEST  SCAN  TEST FAIBLE CONSOMMATION  CONSOMMATION DE PUISSANCE DE PIC  COMPRESSION DE DONNEES  GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GIRARD P. Président du jury : PRAVOSSOUDOVITCH S. Examinateur(s) : SENTIEYS O.;SONZA REORDA M.;VIRAZEL A.;VRIGNAUD J.M. Date de soutenance : 15/09/2006

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
THE-06 / 13145	Papier	THESES	NON CLASSES		Disponible