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Affiner la recherche Interroger des sources externesEtude des Corrélations entre Paramètres Statiques et Dynamiques des CAN en vue d'Optimiser leur Flot de Test / M. COMTE
Titre : Etude des Corrélations entre Paramètres Statiques et Dynamiques des CAN en vue d'Optimiser leur Flot de Test Type de document : texte imprimé Auteurs : M. COMTE, Auteur Année de publication : 2003 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUITS INTEGRES MIXTES CONVERTISSEURS ANALOGIQUE/NUMERIQUE TEST DES CAN CIRCUITS INTEGRES MIXTES CONVERTISSEURS ANALOGIQUE-NUMERIQUE TEST DES CAN ANALYSE SPECTRALE OPTIMISATION DE TEST MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS ADC TESTING SPECTRAL ANALYSIS TEST OPTIMISATION ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Résumé : Le test industriel des Convertisseurs Analogique-Numérique (CAN) consiste à évaluer les paramètres fonctionnels du composant testé afin de les comparer aux limites de tolérance fixées par le cahier des charges. On distingue ainsi les circuits sains des circuits défectueux. Les paramètres caractéristiques d'un CAN sont de deux types: statiques et dynamiques. Chaque type de paramètre nécessite une procédure de test dédiée (en général une analyse statistique et une analyse spectrale respectivement), si bien que le coût du test devient prépondérant dans le prix de revient des CAN, et plus généralement des circuits mixtes analogiques et numériques. Ainsi, réduire le coût du test des CAN est un point critique dans le contexte du test des circuits mixtes.L'objectif de cette thèse est d'étudier la faisabilité d'une procédure de est uniquement basée sur l'analyse spectrale, permettant de tester l'ensemble des performances d'un CAN. A cette fin, nous avons fait une investigation des corrélations qui existent entre les paramètres statiques et dynamiques. L'étude repose sur la simulation d'un modèle d'environnement de test des CAN. Tout d'abord, nous montrons que l'influence de chaque erreur statique sur les paramètres dynamiques est suffisamment significative pour envisager de détecter les erreursstatiques rédhibitoires à travers la mesure des performances dynamiques. Ensuite, nous évaluons l'efficacité statistique de détection des circuits défectueux pour plusieurs flots de test alternatifs reposant seulement sur l'analyse spectrale. Nous avons enfin développé un outil qui permet d'adapter l'évaluation de l'efficacité statistique de chaque flot à un contexte de test réel.
Industrial testing of Analog-to-Digital Converters (ADCs) consists in evaluating the functional parameters of the component under test. By comparing the achieved performances to the tolerance limits given by the device specifications, the faulty instances can be separated from the fault-free ones. ADCs are characterized by two types of parameters: static and dynamic. Each set of parameters requires a dedicated test procedure (usually a statistical analysis and a spectral analysis, respectively). Consequently, the testing cost is becoming uppermost in the cost price of ADCs, and more generally of mixed-signal circuits. Therefore, reducing the ADC testing cost represents a critical issue for mixed-signal circuit testing. This thesis aims at studying whether a test procedure exclusively based on spectral analysis could lead to the evaluation of the whole set of ADC performances. We have hence investigated the correlations between static and dynamic parameters. The study is based on the simulation of an environment model for ADC testing. In a first approach, we have shown that each static error influence on the measured dynamic parameters is significant enough to allow redhibitory static errors detection through dynamic performance measurement. In a second step, we have evaluated the statistical efficiency to detect faulty instances for several alternative test flows using only spectral analysis. We have finally developed a software tool enabling one to adapt the statistical efficiency evaluation of each flow to a realistic test context.Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : FOUILLAT P. Rapporteur(s) : HUERTAS J.L. Examinateur(s) : CAUVET P.;AZAIS F.;BERNARD S. Invité(s) : DALLET D. Date de soutenance : 11/07/2003 Etude des Corrélations entre Paramètres Statiques et Dynamiques des CAN en vue d'Optimiser leur Flot de Test [texte imprimé] / M. COMTE, Auteur . - 2003.
Langues : Français (fre)
Tags : CIRCUITS INTEGRES MIXTES CONVERTISSEURS ANALOGIQUE/NUMERIQUE TEST DES CAN CIRCUITS INTEGRES MIXTES CONVERTISSEURS ANALOGIQUE-NUMERIQUE TEST DES CAN ANALYSE SPECTRALE OPTIMISATION DE TEST MIXED-SIGNAL INTEGRATED CIRCUITS ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS ADC TESTING SPECTRAL ANALYSIS TEST OPTIMISATION ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Résumé : Le test industriel des Convertisseurs Analogique-Numérique (CAN) consiste à évaluer les paramètres fonctionnels du composant testé afin de les comparer aux limites de tolérance fixées par le cahier des charges. On distingue ainsi les circuits sains des circuits défectueux. Les paramètres caractéristiques d'un CAN sont de deux types: statiques et dynamiques. Chaque type de paramètre nécessite une procédure de test dédiée (en général une analyse statistique et une analyse spectrale respectivement), si bien que le coût du test devient prépondérant dans le prix de revient des CAN, et plus généralement des circuits mixtes analogiques et numériques. Ainsi, réduire le coût du test des CAN est un point critique dans le contexte du test des circuits mixtes.L'objectif de cette thèse est d'étudier la faisabilité d'une procédure de est uniquement basée sur l'analyse spectrale, permettant de tester l'ensemble des performances d'un CAN. A cette fin, nous avons fait une investigation des corrélations qui existent entre les paramètres statiques et dynamiques. L'étude repose sur la simulation d'un modèle d'environnement de test des CAN. Tout d'abord, nous montrons que l'influence de chaque erreur statique sur les paramètres dynamiques est suffisamment significative pour envisager de détecter les erreursstatiques rédhibitoires à travers la mesure des performances dynamiques. Ensuite, nous évaluons l'efficacité statistique de détection des circuits défectueux pour plusieurs flots de test alternatifs reposant seulement sur l'analyse spectrale. Nous avons enfin développé un outil qui permet d'adapter l'évaluation de l'efficacité statistique de chaque flot à un contexte de test réel.
Industrial testing of Analog-to-Digital Converters (ADCs) consists in evaluating the functional parameters of the component under test. By comparing the achieved performances to the tolerance limits given by the device specifications, the faulty instances can be separated from the fault-free ones. ADCs are characterized by two types of parameters: static and dynamic. Each set of parameters requires a dedicated test procedure (usually a statistical analysis and a spectral analysis, respectively). Consequently, the testing cost is becoming uppermost in the cost price of ADCs, and more generally of mixed-signal circuits. Therefore, reducing the ADC testing cost represents a critical issue for mixed-signal circuit testing. This thesis aims at studying whether a test procedure exclusively based on spectral analysis could lead to the evaluation of the whole set of ADC performances. We have hence investigated the correlations between static and dynamic parameters. The study is based on the simulation of an environment model for ADC testing. In a first approach, we have shown that each static error influence on the measured dynamic parameters is significant enough to allow redhibitory static errors detection through dynamic performance measurement. In a second step, we have evaluated the statistical efficiency to detect faulty instances for several alternative test flows using only spectral analysis. We have finally developed a software tool enabling one to adapt the statistical efficiency evaluation of each flow to a realistic test context.Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : FOUILLAT P. Rapporteur(s) : HUERTAS J.L. Examinateur(s) : CAUVET P.;AZAIS F.;BERNARD S. Invité(s) : DALLET D. Date de soutenance : 11/07/2003 Réservation
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Titre : Test Intégré pour Convertisseurs Analogique/Numérique Type de document : texte imprimé Auteurs : S. BERNARD, Auteur Année de publication : 2001 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT INTEGRE CIRCUITS MIXTES CONVERTISSEURS ANALOGIQUE/NUMERIQUE GENERATEUR DE RAMPE GENERATEUR DE SIGNAUX TRIANGULAIRES TEST TEST INTEGRE GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Résumé : Les circuits intégrés mixtes développés pour les nouvelles applications multimédias et télécommunications sont constitués de blocs analogiques et de blocs numériques. Le coût du test de ces circuits mixtes est un facteur critique pour leur prix de revient. En particulier, en production industrielle, les Convertisseurs Analogique/Numérique (CAN) sont testés en mode fonctionnel (histogramme, FFT) en utilisant des ressources de test externes extrêmement coûteuses. Dans ce contexte, une solution attractive pour réduire le coût du test consiste à intégrer directement sur la puce tout ou une partie des ressources nécessaires au test. L'objectif des travaux présentés dans cette thèse est donc la conception et le développement de structures d'auto-test intégré (BIST) permettant le test par histogramme des CAN. L'implantation directe sur silicium de cette technique de test ne serait pas possible car elle nécessiterait un surcoût de silicium important. Pour rendre cette intégration viable nous avons donc été amenés à envisager des solutions originales basées sur la décomposition et l'analyse par histogramme. Cette approche, associée à la mise en place d'un certain nombre de simplifications des calculs d'extraction nous a permis de réduire considérablement les ressources matérielles (mémoires, module de calcul) à intégrer. Enfin, pour compléter cette structure BIST, nous avons conçu une architecture originale de générateur de rampe et de générateur de signaux triangulaires. Ces générateurs utilisent un système d'auto-calibration qui leur permet de générer un signal précis et insensible aux variations des paramètres technologiques tout en impliquant une surface de silicium minimale.
The mixed-signal circuits developed for the new multimedia applications include analog blocks and digital blocks. In an industrial context, the Analog-to-Digital Converters (ADC) are tested with a functional approach (histogram, FFT) by using expensive external test equipment. An attractive solution to reduce the cost of the test consists in moving some or all the tester functions onto the chip itself. The objective of the work presented in this thesis is the design and the development of architectures for histogram-based ADC Built-In-Self-Test (BIST). The straightforward implementation of the histogram test technique requires a significant silicon area overhead. In order to reduce this area, we propose original solutions based on the time decomposition of the histogram-based test. With this approach and simplifications of calculations, we can reduce the required hardware resources (memories, calculation). Finally, to make this BIST structure complete, we design an original architecture of ramp and triangular-wave generator. These generators use a corrective scheme to generate an accurate signal which is insensitive to the process variations. Furthermore they exhibit a very low area overhead.Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : AUVERGNE D. Rapporteur(s) : KAISER A.;OSSEIRAN A. Examinateur(s) : FOUILLAT P.;AZAIS F.;RENOVELL M. Date de soutenance : 13/04/2001 Test Intégré pour Convertisseurs Analogique/Numérique [texte imprimé] / S. BERNARD, Auteur . - 2001.
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Tags : CIRCUIT INTEGRE CIRCUITS MIXTES CONVERTISSEURS ANALOGIQUE/NUMERIQUE GENERATEUR DE RAMPE GENERATEUR DE SIGNAUX TRIANGULAIRES TEST TEST INTEGRE GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Résumé : Les circuits intégrés mixtes développés pour les nouvelles applications multimédias et télécommunications sont constitués de blocs analogiques et de blocs numériques. Le coût du test de ces circuits mixtes est un facteur critique pour leur prix de revient. En particulier, en production industrielle, les Convertisseurs Analogique/Numérique (CAN) sont testés en mode fonctionnel (histogramme, FFT) en utilisant des ressources de test externes extrêmement coûteuses. Dans ce contexte, une solution attractive pour réduire le coût du test consiste à intégrer directement sur la puce tout ou une partie des ressources nécessaires au test. L'objectif des travaux présentés dans cette thèse est donc la conception et le développement de structures d'auto-test intégré (BIST) permettant le test par histogramme des CAN. L'implantation directe sur silicium de cette technique de test ne serait pas possible car elle nécessiterait un surcoût de silicium important. Pour rendre cette intégration viable nous avons donc été amenés à envisager des solutions originales basées sur la décomposition et l'analyse par histogramme. Cette approche, associée à la mise en place d'un certain nombre de simplifications des calculs d'extraction nous a permis de réduire considérablement les ressources matérielles (mémoires, module de calcul) à intégrer. Enfin, pour compléter cette structure BIST, nous avons conçu une architecture originale de générateur de rampe et de générateur de signaux triangulaires. Ces générateurs utilisent un système d'auto-calibration qui leur permet de générer un signal précis et insensible aux variations des paramètres technologiques tout en impliquant une surface de silicium minimale.
The mixed-signal circuits developed for the new multimedia applications include analog blocks and digital blocks. In an industrial context, the Analog-to-Digital Converters (ADC) are tested with a functional approach (histogram, FFT) by using expensive external test equipment. An attractive solution to reduce the cost of the test consists in moving some or all the tester functions onto the chip itself. The objective of the work presented in this thesis is the design and the development of architectures for histogram-based ADC Built-In-Self-Test (BIST). The straightforward implementation of the histogram test technique requires a significant silicon area overhead. In order to reduce this area, we propose original solutions based on the time decomposition of the histogram-based test. With this approach and simplifications of calculations, we can reduce the required hardware resources (memories, calculation). Finally, to make this BIST structure complete, we design an original architecture of ramp and triangular-wave generator. These generators use a corrective scheme to generate an accurate signal which is insensitive to the process variations. Furthermore they exhibit a very low area overhead.Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : AUVERGNE D. Rapporteur(s) : KAISER A.;OSSEIRAN A. Examinateur(s) : FOUILLAT P.;AZAIS F.;RENOVELL M. Date de soutenance : 13/04/2001 Réservation
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