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Contribution à la Caractérisation de Processus Technologiques CMOS : Etude de Structures de Test destinées à la Mesure de Capacités des Composants Elémentaires / A. KHALKHAL

Public ISBD Titre : Contribution à la Caractérisation de Processus Technologiques CMOS : Etude de Structures de Test destinées à la Mesure de Capacités des Composants Elémentaires Type de document : texte imprimé Auteurs : A. KHALKHAL, Auteur Année de publication : 1994 Langues : Français (fre) Tags : STRUCTURE DE TEST  CAPACITE  JONCTION PN  TRANSISTORS MOS  COURANT DE FUITE  METROLOGIE  CIRCUITS INTEGRES CMOS  COMPOSANT ELEMENTAIRE  ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GIRARD P. Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : MARTINEZ A.;TOUBOUL A. Examinateur(s) : JUGE A.;NOUET P. Date de soutenance : 25/11/1994 Contribution à la Caractérisation de Processus Technologiques CMOS : Etude de Structures de Test destinées à la Mesure de Capacités des Composants Elémentaires [texte imprimé] / A. KHALKHAL, Auteur . - 1994. Langues : Français (fre) Tags : STRUCTURE DE TEST  CAPACITE  JONCTION PN  TRANSISTORS MOS  COURANT DE FUITE  METROLOGIE  CIRCUITS INTEGRES CMOS  COMPOSANT ELEMENTAIRE  ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : GIRARD P. Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : MARTINEZ A.;TOUBOUL A. Examinateur(s) : JUGE A.;NOUET P. Date de soutenance : 25/11/1994

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
THE-94 / 5333	Papier	THESES	NON CLASSES		Disponible