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19 résultat(s) recherche sur le tag 'defaut'

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Compatibilité Electromagnétique / DEGAUQUE

Public

ISBD

Titre : Compatibilité Electromagnétique
Type de document : texte imprimé
Auteurs : DEGAUQUE, Auteur ; HAMELIN, Auteur
Editeur : Dunod
Langues : Inconnue (und)
Tags : DEFAUT ELECTRONIQUE FIABILITE PROTECTION QUALITE
Index. décimale : G2 G2 - Physique, Chimie

Compatibilité Electromagnétique [texte imprimé] / DEGAUQUE, Auteur ; HAMELIN, Auteur . - [S.l.] : Dunod, [s.d.].
Langues : Inconnue (und)
Tags : DEFAUT ELECTRONIQUE FIABILITE PROTECTION QUALITE
Index. décimale : G2 G2 - Physique, Chimie

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G2 / 3420 Papier OUVRAGES GENERALITES Disponible

Design of Systems and Circuits / Peter BEKER

Public

ISBD

Titre : Design of Systems and Circuits
Type de document : texte imprimé
Auteurs : Peter BEKER, Auteur ; Finn JENSEN, Auteur
Editeur : McGraw-Hill
Année de publication : 1977
Langues : Inconnue (und)
Tags : DEFAUT CIRCUIT OPTIMISATION PROBABILITE
Index. décimale : E4 E4 - CAO

Design of Systems and Circuits [texte imprimé] / Peter BEKER, Auteur ; Finn JENSEN, Auteur . - [S.l.] : McGraw-Hill, 1977.
Langues : Inconnue (und)
Tags : DEFAUT CIRCUIT OPTIMISATION PROBABILITE
Index. décimale : E4 E4 - CAO

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E4 / 2454 Papier OUVRAGES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible

Dianostic des Pannes dans les Systèmes / PAU

Public

ISBD

Titre : Dianostic des Pannes dans les Systèmes
Type de document : texte imprimé
Auteurs : PAU, Auteur
Editeur : Cepadues Editions
Année de publication : 1975
Langues : Inconnue (und)
Tags : DEFAUT DIAGNOSTIC TEST
Index. décimale : E3 E3 - Test

Dianostic des Pannes dans les Systèmes [texte imprimé] / PAU, Auteur . - [S.l.] : Cepadues Editions, 1975.
Langues : Inconnue (und)
Tags : DEFAUT DIAGNOSTIC TEST
Index. décimale : E3 E3 - Test

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E3 / 2288 Papier OUVRAGES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible

Analyse de Défaillances de Circuits VLSI par Microscopie Electronique à Balayage / BERGHER

Public

ISBD

Titre : Analyse de Défaillances de Circuits VLSI par Microscopie Electronique à Balayage
Type de document : texte imprimé
Auteurs : BERGHER, Auteur
Langues : Français (fre)
Tags : TEST DIAGNOSTIC MICROSCOPIE V.L.S.I. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85044

Analyse de Défaillances de Circuits VLSI par Microscopie Electronique à Balayage [texte imprimé] / BERGHER, Auteur . - [s.d.].
Langues : Français (fre)
Tags : TEST DIAGNOSTIC MICROSCOPIE V.L.S.I. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85044

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THE-85 / 2890 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible

Built-In Test for VLSI : Pseudorandom Techniques / BARDELL

Public

ISBD

Titre : Built-In Test for VLSI : Pseudorandom Techniques
Type de document : texte imprimé
Auteurs : BARDELL, Auteur ; MCANNEY, Auteur ; SAVIR, Auteur
Editeur : Wiley Press
Année de publication : 1987
Langues : Inconnue (und)
Tags : TEST V.L.S.I. DEFAUT LOGIQUE C.A.O.
Index. décimale : E3 E3 - Test

Built-In Test for VLSI : Pseudorandom Techniques [texte imprimé] / BARDELL, Auteur ; MCANNEY, Auteur ; SAVIR, Auteur . - [S.l.] : Wiley Press, 1987.
Langues : Inconnue (und)
Tags : TEST V.L.S.I. DEFAUT LOGIQUE C.A.O.
Index. décimale : E3 E3 - Test

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E3 / 3128 Papier OUVRAGES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible

Conception de Contrôleurs Autotestables pour des Hypothèses de Pannes Analytiques / SCHREIBER JANSCH

Public

ISBD

Titre : Conception de Contrôleurs Autotestables pour des Hypothèses de Pannes Analytiques
Type de document : texte imprimé
Auteurs : SCHREIBER JANSCH, Auteur
Langues : Français (fre)
Tags : TEST V.L.S.I. DEFAUT SYNTHESE
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85037

Conception de Contrôleurs Autotestables pour des Hypothèses de Pannes Analytiques [texte imprimé] / SCHREIBER JANSCH, Auteur . - [s.d.].
Langues : Français (fre)
Tags : TEST V.L.S.I. DEFAUT SYNTHESE
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85037

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THE-85 / 2883 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible

Conception et Réalisation du Préprocesseur Hiérarchique du Simulateur Logique et de Fautes FLOGMOS / GUILHE

Public

ISBD

Titre : Conception et Réalisation du Préprocesseur Hiérarchique du Simulateur Logique et de Fautes FLOGMOS
Type de document : texte imprimé
Auteurs : GUILHE, Auteur
Langues : Français (fre)
Tags : SIMULATION LOGIQUE TEST C.A.O. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85051

Conception et Réalisation du Préprocesseur Hiérarchique du Simulateur Logique et de Fautes FLOGMOS [texte imprimé] / GUILHE, Auteur . - [s.d.].
Langues : Français (fre)
Tags : SIMULATION LOGIQUE TEST C.A.O. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85051

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THE-85 / 2897 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible

Conception et Réalisation d'un Simulateur Logique et Concurrent de Fautes pour Circuits Intégrés VLSI / GUIRAUDOU

Public

ISBD

Titre : Conception et Réalisation d'un Simulateur Logique et Concurrent de Fautes pour Circuits Intégrés VLSI
Type de document : texte imprimé
Auteurs : GUIRAUDOU, Auteur
Langues : Français (fre)
Tags : SIMULATION LOGIQUE TEST C.A.O. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85054

Conception et Réalisation d'un Simulateur Logique et Concurrent de Fautes pour Circuits Intégrés VLSI [texte imprimé] / GUIRAUDOU, Auteur . - [s.d.].
Langues : Français (fre)
Tags : SIMULATION LOGIQUE TEST C.A.O. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 85054

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THE-85 / 2900 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible

Contribution au Test des Circuits Intégrés MOS : Génération Automatique de Vecteurs de Test au niveau Transistors Interrupteurs / S. PRAVOSSOUDOVITCH

Public

ISBD

Titre : Contribution au Test des Circuits Intégrés MOS : Génération Automatique de Vecteurs de Test au niveau Transistors Interrupteurs
Type de document : texte imprimé
Auteurs : S. PRAVOSSOUDOVITCH, Auteur
Année de publication : 1987
Langues : Français (fre)
Tags : TEST M.O.S. V.L.S.I. C.A.O. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 87038
Date de soutenance : 29/03/1987

Contribution au Test des Circuits Intégrés MOS : Génération Automatique de Vecteurs de Test au niveau Transistors Interrupteurs [texte imprimé] / S. PRAVOSSOUDOVITCH, Auteur . - 1987.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST M.O.S. V.L.S.I. C.A.O. DEFAUT
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 87038
Date de soutenance : 29/03/1987

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THE-87 / 3087 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible

Contribution au Test Déterministe des Circuits CMOS : Equivalences de Pannes / M.L. FLOTTES

Public

ISBD

Titre : Contribution au Test Déterministe des Circuits CMOS : Equivalences de Pannes
Type de document : texte imprimé
Auteurs : M.L. FLOTTES, Auteur
Année de publication : 1990
Langues : Français (fre)
Tags : TEST V.L.S.I. DEFAUT M.O.S. MONDELISATION DES FAUTES EQUIVALENCES DE FAUTES CIRCUITS CMOS
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 90017 Emprunte par LOONIS le 17 Oct 1991
Président du jury : CAMBON G.
Examinateur(s) : COURTOIS B.;LANDRAULT C.;FIGUERAS J.;PRAVOSSOUDOVITCH S.;TEIXEIRA P.
Date de soutenance : 03/04/1990

Contribution au Test Déterministe des Circuits CMOS : Equivalences de Pannes [texte imprimé] / M.L. FLOTTES, Auteur . - 1990.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST V.L.S.I. DEFAUT M.O.S. MONDELISATION DES FAUTES EQUIVALENCES DE FAUTES CIRCUITS CMOS
Index. décimale : THE Thèses de doctorat
Note de contenu : LAMM 90017 Emprunte par LOONIS le 17 Oct 1991
Président du jury : CAMBON G.
Examinateur(s) : COURTOIS B.;LANDRAULT C.;FIGUERAS J.;PRAVOSSOUDOVITCH S.;TEIXEIRA P.
Date de soutenance : 03/04/1990

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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité
THE-90 / 3368 Papier THESES NON CLASSES Disponible