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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip / K. CHAKRABARTY

Public ISBD Titre : Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip Type de document : texte imprimé Auteurs : K. CHAKRABARTY, Auteur ; V. IYENGAR, Auteur Editeur : Kluwer Academic Publishers Année de publication : 2002 Importance : 248 p. ISBN/ISSN/EAN : 1-4020-7119-1 Langues : Inconnue (und) Tags : COMPUTER  ELECTRONIC MEASUREMENTS Index. décimale : E3 E3 - Test Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip [texte imprimé] / K. CHAKRABARTY, Auteur ; V. IYENGAR, Auteur . - [S.l.] : Kluwer Academic Publishers, 2002 . - 248 p. ISBN : 1-4020-7119-1 Langues : Inconnue (und) Tags : COMPUTER  ELECTRONIC MEASUREMENTS Index. décimale : E3 E3 - Test

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Exemplaires

Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
E3 / 7387	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Marie-Lise Flottes Sorti jusqu'au 18/11/2011