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Détection de Collisions et Définition de Stratégies d'Evitement d'Obstacles dans un Environnement de Programmation Hors-Ligne pour Robots / SEGURA

Public ISBD Titre : Détection de Collisions et Définition de Stratégies d'Evitement d'Obstacles dans un Environnement de Programmation Hors-Ligne pour Robots Type de document : texte imprimé Auteurs : SEGURA, Auteur Année de publication : 1987 Langues : Français (fre) Tags : ROBOTIQUE  C.A.O.  PROGRAMMATION  GENERATION  MOUVEMENT Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 87044 Directeur(s) de thèse : FOURNIER A. Date de soutenance : 06/05/1987 Détection de Collisions et Définition de Stratégies d'Evitement d'Obstacles dans un Environnement de Programmation Hors-Ligne pour Robots [texte imprimé] / SEGURA, Auteur . - 1987. Langues : Français (fre) Tags : ROBOTIQUE  C.A.O.  PROGRAMMATION  GENERATION  MOUVEMENT Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 87044 Directeur(s) de thèse : FOURNIER A. Date de soutenance : 06/05/1987

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THE-87 / 3093	Papier	THESES	ROBOTIQUE		Disponible

Génération et Identification des Lois de Mouvements en Robotique. Application à l'Identification et à la Correction de Trajectoires du Manipulateur PUMA 560 / BLANCHON

Public ISBD Titre : Génération et Identification des Lois de Mouvements en Robotique. Application à l'Identification et à la Correction de Trajectoires du Manipulateur PUMA 560 Type de document : texte imprimé Auteurs : BLANCHON, Auteur Langues : Français (fre) Tags : ROBOTIQUE  MOUVEMENT  IDENTIFICATION  GENERATION Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 87040 Génération et Identification des Lois de Mouvements en Robotique. Application à l'Identification et à la Correction de Trajectoires du Manipulateur PUMA 560 [texte imprimé] / BLANCHON, Auteur . - [s.d.]. Langues : Français (fre) Tags : ROBOTIQUE  MOUVEMENT  IDENTIFICATION  GENERATION Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 87040

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THE-87 / 3089	Non renseigné	THESES	NON CLASSES		Disponible

Sequential Logic Testing and Verification / A. GHOSH

Public ISBD Titre : Sequential Logic Testing and Verification Type de document : texte imprimé Auteurs : A. GHOSH, Auteur ; S. DEVADAS, Auteur ; A. NEWTON, Auteur Editeur : Kluwer Academic Publishers Année de publication : 1992 Langues : Inconnue (und) Tags : TEST  SEQUENTIEL  GENERATION Index. décimale : E3 E3 - Test Sequential Logic Testing and Verification [texte imprimé] / A. GHOSH, Auteur ; S. DEVADAS, Auteur ; A. NEWTON, Auteur . - [S.l.] : Kluwer Academic Publishers, 1992. Langues : Inconnue (und) Tags : TEST  SEQUENTIEL  GENERATION Index. décimale : E3 E3 - Test

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E3 / 3595	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible

Techniques for Test Generation and Verification of VLSI Sequential Circuits / A. GHOSH

Public ISBD Titre : Techniques for Test Generation and Verification of VLSI Sequential Circuits Type de document : texte imprimé Auteurs : A. GHOSH, Auteur Année de publication : 1991 Langues : Inconnue (und) Tags : V.L.S.I.  CIRCUIT  TEST  GENERATION Index. décimale : E3 E3 - Test Techniques for Test Generation and Verification of VLSI Sequential Circuits [texte imprimé] / A. GHOSH, Auteur . - 1991. Langues : Inconnue (und) Tags : V.L.S.I.  CIRCUIT  TEST  GENERATION Index. décimale : E3 E3 - Test

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E3 / 3579	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation / K.T. CHENG

Public ISBD Titre : Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation Type de document : texte imprimé Auteurs : K.T. CHENG, Auteur ; V.D. AGRAWAL, Auteur Editeur : Kluwer Academic Publishers Année de publication : 1989 ISBN/ISSN/EAN : 0-7923-9025-3 Langues : Inconnue (und) Tags : TEST  GENERATION  SIMULATION  V.L.S.I. Index. décimale : E3 E3 - Test Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation [texte imprimé] / K.T. CHENG, Auteur ; V.D. AGRAWAL, Auteur . - [S.l.] : Kluwer Academic Publishers, 1989. ISBN : 0-7923-9025-3 Langues : Inconnue (und) Tags : TEST  GENERATION  SIMULATION  V.L.S.I. Index. décimale : E3 E3 - Test

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E3 / 3343	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible