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Affiner la recherche Interroger des sources externesMéthode hiérarchique de calcul de la longueur de test aléatoire de circuits VLSI et analyse de testabilité / G. MASSEBOEUF
Titre : Méthode hiérarchique de calcul de la longueur de test aléatoire de circuits VLSI et analyse de testabilité Type de document : texte imprimé Auteurs : G. MASSEBOEUF, Auteur Année de publication : 1995 Langues : Français (fre) Tags : CONCEPTION DE CIRCUITS DIGITAUX TEST INTEGRE TEST PSEUDO-ALEATOIRE LONGUEUR DE TEST TRANSPARENCES NIVEAU RTL SIMULATION SYMBOLIQUE PRODUCTIQUE : AUTOMATIQUE ET INFORMATIQUE INDUSTRIELLE Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : DION J.M. Rapporteur(s) : THEVENOD P.;LANDRAULT C. Examinateur(s) : DAVID R.;LARDY J.L.;PULOU J. Date de soutenance : 10/04/1995 Méthode hiérarchique de calcul de la longueur de test aléatoire de circuits VLSI et analyse de testabilité [texte imprimé] / G. MASSEBOEUF, Auteur . - 1995.
Langues : Français (fre)
Tags : CONCEPTION DE CIRCUITS DIGITAUX TEST INTEGRE TEST PSEUDO-ALEATOIRE LONGUEUR DE TEST TRANSPARENCES NIVEAU RTL SIMULATION SYMBOLIQUE PRODUCTIQUE : AUTOMATIQUE ET INFORMATIQUE INDUSTRIELLE Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : DION J.M. Rapporteur(s) : THEVENOD P.;LANDRAULT C. Examinateur(s) : DAVID R.;LARDY J.L.;PULOU J. Date de soutenance : 10/04/1995 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-95 / 5368 Papier THESES NON CLASSES Disponible Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité / V. PREPIN
Titre : Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité Type de document : texte imprimé Auteurs : V. PREPIN, Auteur Année de publication : 1997 Langues : Français (fre) Tags : TEST PSEUDO-ALEATOIRE TESTABILITE COUVERTURE DE FAUTES LONGUEUR DE TEST SIMULATION COURTE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : NICOLAIDIS M. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;THEVENOD-FOSSE P. Examinateur(s) : DAVID R.;JACOMINO M. Date de soutenance : 02/07/1997 Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité [texte imprimé] / V. PREPIN, Auteur . - 1997.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST PSEUDO-ALEATOIRE TESTABILITE COUVERTURE DE FAUTES LONGUEUR DE TEST SIMULATION COURTE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : NICOLAIDIS M. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;THEVENOD-FOSSE P. Examinateur(s) : DAVID R.;JACOMINO M. Date de soutenance : 02/07/1997 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-97 / 6070 Papier THESES NON CLASSES Disponible

