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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies / A. PAVLOV

Public ISBD Titre : CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Type de document : texte imprimé Auteurs : A. PAVLOV, Auteur ; Manoj SACHDEV, Auteur Editeur : Springer Année de publication : 2008 Importance : 189 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-4020-8362-4 Langues : Inconnue (und) Tags : SRAM  TEST  MEMORY DESIGN  V.L.S.I. Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies [texte imprimé] / A. PAVLOV, Auteur ; Manoj SACHDEV, Auteur . - [S.l.] : Springer, 2008 . - 189 p. ISBN : 978-1-4020-8362-4 Langues : Inconnue (und) Tags : SRAM  TEST  MEMORY DESIGN  V.L.S.I. Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
E5 / 13644	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible