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Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices / R.D. Schrimpf

Public ISBD Titre : Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices Type de document : texte imprimé Auteurs : R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur Année de publication : 2004 Importance : 623 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices [texte imprimé] / R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur . - 2004 . - 623 p. ISBN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability

Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices / R.D. Schrimpf

Public ISBD Titre : Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices Type de document : texte imprimé Auteurs : R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur Année de publication : 2004 Importance : 623 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices [texte imprimé] / R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur . - 2004 . - 623 p. ISBN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique

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Exemplaires

Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
E5 / 15208	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Luigi Dilillo Sorti jusqu'au 21/09/2012