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Affiner la recherche Interroger des sources externesAnalyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons / D. SAVART
Titre : Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimé Auteurs : D. SAVART, Auteur Année de publication : 1990 Langues : Français (fre) Tags : MICROSCOPIE TEST CIRCUIT V.L.S.I. ANALYSE DE DEFAILLANCES CIRCUITS INTEGRES TEST SANS CONTACT TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons [texte imprimé] / D. SAVART, Auteur . - 1990.
Langues : Français (fre)
Tags : MICROSCOPIE TEST CIRCUIT V.L.S.I. ANALYSE DE DEFAILLANCES CIRCUITS INTEGRES TEST SANS CONTACT TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-90 / 3444 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
Titre : Computer Techniques for Images Processing in Electron Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : SAXTON, Auteur Editeur : Academic Press Année de publication : 1978 Langues : Inconnue (und) Tags : MICROSCOPIE IMAGE OPTIQUE Index. décimale : A3 A3 - Perception, Vision, Capteurs Computer Techniques for Images Processing in Electron Microscopy [texte imprimé] / SAXTON, Auteur . - [S.l.] : Academic Press, 1978.
Langues : Inconnue (und)
Tags : MICROSCOPIE IMAGE OPTIQUE Index. décimale : A3 A3 - Perception, Vision, Capteurs Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité A3 / 2502 Papier OUVRAGES ROBOTIQUE Disponible
Titre : Microscopie Electronique en Science des Matériaux (Cours) Type de document : texte imprimé Auteurs : JOUFFREY, Auteur ; BOURRET, Auteur ; COLLIE, Auteur Année de publication : 1981 Langues : Inconnue (und) Tags : MICROSCOPIE ELECTRONIQUE CONDUCTEUR ISOLANT Index. décimale : G2 G2 - Physique, Chimie Microscopie Electronique en Science des Matériaux (Cours) [texte imprimé] / JOUFFREY, Auteur ; BOURRET, Auteur ; COLLIE, Auteur . - 1981.
Langues : Inconnue (und)
Tags : MICROSCOPIE ELECTRONIQUE CONDUCTEUR ISOLANT Index. décimale : G2 G2 - Physique, Chimie Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité G2 / 2657 Papier OUVRAGES GENERALITES Disponible
Titre : Analyse de Défaillances de Circuits VLSI par Microscopie Electronique à Balayage Type de document : texte imprimé Auteurs : BERGHER, Auteur Langues : Français (fre) Tags : TEST DIAGNOSTIC MICROSCOPIE V.L.S.I. DEFAUT Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 85044 Analyse de Défaillances de Circuits VLSI par Microscopie Electronique à Balayage [texte imprimé] / BERGHER, Auteur . - [s.d.].
Langues : Français (fre)
Tags : TEST DIAGNOSTIC MICROSCOPIE V.L.S.I. DEFAUT Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 85044 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-85 / 2890 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible
Titre : Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimé Auteurs : D. CONARD, Auteur Année de publication : 1991 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT MICROSCOPIE FAISCEAU TEST CIRCUITS INTEGRES ANALYSE DE DEFAILLANCES TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES RECONNAISSANCE DE FORMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91033 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : CHEHIKIAN A.;CHION A.;COURTOIS B.;SARFATI M.;SECOURGEON M. Invité(s) : LAURENT J. Date de soutenance : 11/02/1991 Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons [texte imprimé] / D. CONARD, Auteur . - 1991.
Langues : Français (fre)
Tags : CIRCUIT MICROSCOPIE FAISCEAU TEST CIRCUITS INTEGRES ANALYSE DE DEFAILLANCES TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES RECONNAISSANCE DE FORMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91033 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : CHEHIKIAN A.;CHION A.;COURTOIS B.;SARFATI M.;SECOURGEON M. Invité(s) : LAURENT J. Date de soutenance : 11/02/1991 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-91 / 3515 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
