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Models in Hardware Testing / H.J. WUNDERLICH

Public ISBD Titre : Models in Hardware Testing Type de document : texte imprimé Auteurs : H.J. WUNDERLICH, Auteur Editeur : Springer Année de publication : 2010 Importance : 255 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-90-481-3281-2 Langues : Inconnue (und) Tags : MICROELECTRONIQUE  TEST STRUCTUREL  MODELES DE FAUTES  DEFAUTS PHYSIQUES Index. décimale : E3 E3 - Test Models in Hardware Testing [texte imprimé] / H.J. WUNDERLICH, Auteur . - [S.l.] : Springer, 2010 . - 255 p. ISBN : 978-90-481-3281-2 Langues : Inconnue (und) Tags : MICROELECTRONIQUE  TEST STRUCTUREL  MODELES DE FAUTES  DEFAUTS PHYSIQUES Index. décimale : E3 E3 - Test

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
E3 / 13862	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Mariane Comte Sorti jusqu'au 06/09/2011