| Titre : | Wireless Approach for SIP and SOC Testing | | Titre original : | Méthode de test sans fil en vue des SIP et des SOC | | Type de document : | document électronique | | Auteurs : | Ziad NOUN, Auteur | | Année de publication : | 2010 | | Langues : | Anglais (eng) | | Tags : | WIRELESS TEST SIP/SOC TESTING REMOTE TEST GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Aujourd'hui le test de fabrication de circuits intégrés au niveau wafer s'appuie sur une technologie par contact entre l'équipement de test et les circuits à tester. Cette méthode souffre de plusieurs limitations telles que l'endommagement des plots de contact lorsque plusieurs tests sont nécessaires en cours de fabrication du système. Pour pallier ces limitations, nous avons exploré une alternative de test basée sur communication sans fil. Pour cela une interface de test a été développée, cette interface doit être intégrée au sein de chaque dispositif à tester. Cette solution innovante entièrement développée au cours de ma thèse permet d'une part au testeur de diffuser simultanément les données de test vers tous les dispositifs du wafer, et d'autre part à chaque dispositif de retourner ses réponses vers le testeur. Cette interface a été développée pour permettre le test d'un dispositif en cours de fabrication (tous les éléments composant le système ne sont pas présent), et optimiser le temps de test de l'ensemble d'un wafer. Plusieurs campagnes de test sur des dispositifs réels nous ont permis de valider une solution au p de l'alimentation des dispositifs sur le wafer. Cette solution s'appuie sur une distibution des alimentations par des rails insérées sur les lignes de découpage du wafer. Enfin, un prototype de notre interface de test sans fil a été réalisé sur une plateforme reconfigurable et nous a permis de valider son fonctionnement en testant un circuit du commerce. | | Directeur(s) de thèse : | FLOTTES M.L. | | Co-directeur(s) de thèse : | ANDREU D. | | Rapporteur(s) : | FOUILLAT P./ROBACH C. | | Examinateur(s) : | BERTRAND Y./BEROULLE V. | | Date de soutenance : | 05/03/2010 | | En ligne : | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00512832/fr/ |
Wireless Approach for SIP and SOC Testing = Méthode de test sans fil en vue des SIP et des SOC [document électronique] / Ziad NOUN, Auteur . - 2010. Langues : Anglais ( eng) | Tags : | WIRELESS TEST SIP/SOC TESTING REMOTE TEST GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL | | Index. décimale : | THE Thèses de doctorat | | Résumé : | Aujourd'hui le test de fabrication de circuits intégrés au niveau wafer s'appuie sur une technologie par contact entre l'équipement de test et les circuits à tester. Cette méthode souffre de plusieurs limitations telles que l'endommagement des plots de contact lorsque plusieurs tests sont nécessaires en cours de fabrication du système. Pour pallier ces limitations, nous avons exploré une alternative de test basée sur communication sans fil. Pour cela une interface de test a été développée, cette interface doit être intégrée au sein de chaque dispositif à tester. Cette solution innovante entièrement développée au cours de ma thèse permet d'une part au testeur de diffuser simultanément les données de test vers tous les dispositifs du wafer, et d'autre part à chaque dispositif de retourner ses réponses vers le testeur. Cette interface a été développée pour permettre le test d'un dispositif en cours de fabrication (tous les éléments composant le système ne sont pas présent), et optimiser le temps de test de l'ensemble d'un wafer. Plusieurs campagnes de test sur des dispositifs réels nous ont permis de valider une solution au p de l'alimentation des dispositifs sur le wafer. Cette solution s'appuie sur une distibution des alimentations par des rails insérées sur les lignes de découpage du wafer. Enfin, un prototype de notre interface de test sans fil a été réalisé sur une plateforme reconfigurable et nous a permis de valider son fonctionnement en testant un circuit du commerce. | | Directeur(s) de thèse : | FLOTTES M.L. | | Co-directeur(s) de thèse : | ANDREU D. | | Rapporteur(s) : | FOUILLAT P./ROBACH C. | | Examinateur(s) : | BERTRAND Y./BEROULLE V. | | Date de soutenance : | 05/03/2010 | | En ligne : | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00512832/fr/ |
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