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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices & Circuits / Paul V. DRESSENDORFER

Public ISBD Titre : Ionizing Radiation Effects in MOS Devices & Circuits Type de document : texte imprimé Auteurs : Paul V. DRESSENDORFER, Auteur ; T.P. MA, Auteur Editeur : Wiley Press Année de publication : 1989 Importance : 587 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-84893-6 Langues : Inconnue (und) Tags : radiation  SEU  SET  reliability  ionizing particle  event upset Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique Ionizing Radiation Effects in MOS Devices & Circuits [texte imprimé] / Paul V. DRESSENDORFER, Auteur ; T.P. MA, Auteur . - [S.l.] : Wiley Press, 1989 . - 587 p. ISBN : 978-0-471-84893-6 Langues : Inconnue (und) Tags : radiation  SEU  SET  reliability  ionizing particle  event upset Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique

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E5 / 5061	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Luigi Dilillo Sorti jusqu'au 25/06/2012

Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices / R.D. Schrimpf

Public ISBD Titre : Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices Type de document : texte imprimé Auteurs : R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur Année de publication : 2004 Importance : 623 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices [texte imprimé] / R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur . - 2004 . - 623 p. ISBN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability

Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices / R.D. Schrimpf

Public ISBD Titre : Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices Type de document : texte imprimé Auteurs : R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur Année de publication : 2004 Importance : 623 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices [texte imprimé] / R.D. Schrimpf, Auteur ; D.M. Fleetwood, Auteur . - 2004 . - 623 p. ISBN : 978-981-238-940-4 Langues : Anglais (eng) Tags : Radiation  Soft Error  SEU  MEU  Reliability Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
E5 / 15208	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Luigi Dilillo Sorti jusqu'au 21/09/2012