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8 résultat(s) recherche sur le tag 'surete de fonctionnement'
Affiner la recherche Interroger des sources externesAnalyse Quantitative et Utilité du Retour d'Expérience pour la Maintenance des Matériels et la Sécurité / A. LANNOY
Titre : Analyse Quantitative et Utilité du Retour d'Expérience pour la Maintenance des Matériels et la Sécurité Type de document : texte imprimé Auteurs : A. LANNOY, Auteur Editeur : Eyrolles Année de publication : 1995 Importance : 268 p. Langues : Inconnue (und) Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT DEMARCHE BAYESIENNE ANALYSE QUANTITATIVE Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Analyse Quantitative et Utilité du Retour d'Expérience pour la Maintenance des Matériels et la Sécurité [texte imprimé] / A. LANNOY, Auteur . - [S.l.] : Eyrolles, 1995 . - 268 p.
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Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT DEMARCHE BAYESIENNE ANALYSE QUANTITATIVE Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité I1 / 13667 Papier OUVRAGES INFORMATIQUE Disponible
Titre : Evaluation de la Fiabilité Prévisionnelle Type de document : texte imprimé Auteurs : A. LANNOY, Auteur ; H. PROCACCIA, Auteur Editeur : Lavoisier Année de publication : 2006 Importance : 428 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7430-0915-1 Langues : Inconnue (und) Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT FIABILITE METHODES PROBABILISTES Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Evaluation de la Fiabilité Prévisionnelle [texte imprimé] / A. LANNOY, Auteur ; H. PROCACCIA, Auteur . - [S.l.] : Lavoisier, 2006 . - 428 p.
ISBN : 978-2-7430-0915-1
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Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT FIABILITE METHODES PROBABILISTES Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité I1 / 13661 Papier OUVRAGES INFORMATIQUE Disponible
Titre : Les Fondements des Approches Fréquentielle et Bayésienne Type de document : texte imprimé Auteurs : H. PROCACCIA, Auteur Editeur : Lavoisier Année de publication : 2008 Importance : 244 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7430-1024-9 Langues : Inconnue (und) Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT ANALYSE DE RISQUE APPROCHES FREQUENTIELLE ET BAYESIENNE Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Les Fondements des Approches Fréquentielle et Bayésienne [texte imprimé] / H. PROCACCIA, Auteur . - [S.l.] : Lavoisier, 2008 . - 244 p.
ISBN : 978-2-7430-1024-9
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Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT ANALYSE DE RISQUE APPROCHES FREQUENTIELLE ET BAYESIENNE Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité I1 / 13662 Papier OUVRAGES INFORMATIQUE Disponible
Titre : Sur la Validation des Systèmes Tolérant les Fautes : Injection de Fautes dans des Modèles de Simulation VHDL Type de document : texte imprimé Auteurs : E. JENN, Auteur Année de publication : 1994 Langues : Français (fre) Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT TOLERANCE AUX FAUTES VALIDATION EXPERIMENTALE INJECTION DE FAUTES SIMULATION VHDL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : COSTES A. Rapporteur(s) : ARLAT M.J.;LANDRAULT Examinateur(s) : BORRIONE D.;DARROY J.M.;DIEUDONNE O.;LAPRIE J.C. Date de soutenance : 12/07/1994 Sur la Validation des Systèmes Tolérant les Fautes : Injection de Fautes dans des Modèles de Simulation VHDL [texte imprimé] / E. JENN, Auteur . - 1994.
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Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT TOLERANCE AUX FAUTES VALIDATION EXPERIMENTALE INJECTION DE FAUTES SIMULATION VHDL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : COSTES A. Rapporteur(s) : ARLAT M.J.;LANDRAULT Examinateur(s) : BORRIONE D.;DARROY J.M.;DIEUDONNE O.;LAPRIE J.C. Date de soutenance : 12/07/1994 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-94 / 5239 Papier THESES INFORMATIQUE Disponible
Titre : Le Test Unifié de Cartes appliqué à la Conception de Systèmes Fiables Type de document : texte imprimé Auteurs : M. LUBASZEWSKI, Auteur Année de publication : 1994 Langues : Français (fre) Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT FIABILITE TESTS EN-LIGNE/HORS-LIGNE UNIFIES CARTES ET SYSTEMES "SELF-CHECKING" BOUNDARY SCAN "FAIL-SAFE" FIABLES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : COURTOIS B. Rapporteur(s) : BOREL J.;HUERTAS DIAZ J.;LANDRAULT C.;SOMA M.;TEIXEIRA P. Date de soutenance : 20/06/1994 Le Test Unifié de Cartes appliqué à la Conception de Systèmes Fiables [texte imprimé] / M. LUBASZEWSKI, Auteur . - 1994.
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Tags : SURETE DE FONCTIONNEMENT FIABILITE TESTS EN-LIGNE/HORS-LIGNE UNIFIES CARTES ET SYSTEMES "SELF-CHECKING" BOUNDARY SCAN "FAIL-SAFE" FIABLES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : COURTOIS B. Rapporteur(s) : BOREL J.;HUERTAS DIAZ J.;LANDRAULT C.;SOMA M.;TEIXEIRA P. Date de soutenance : 20/06/1994 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-94 / 5283 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
Titre : Fiabilité des Systèmes Type de document : texte imprimé Auteurs : A. PAGES, Auteur ; M. GONDRAN, Auteur Editeur : Eyrolles Année de publication : 1980 Importance : 323 p. Langues : Inconnue (und) Tags : FIABILITE SURETE DE FONCTIONNEMENT Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Fiabilité des Systèmes [texte imprimé] / A. PAGES, Auteur ; M. GONDRAN, Auteur . - [S.l.] : Eyrolles, 1980 . - 323 p.
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Tags : FIABILITE SURETE DE FONCTIONNEMENT Index. décimale : I1 I1 - Informatique Théorique Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité I1 / 13671 Papier OUVRAGES INFORMATIQUE Disponible
Titre : Sûreté de Fonctionnement des Systèmes Industriels Type de document : texte imprimé Auteurs : A. VILLEMEUR, Auteur Editeur : Eyrolles Année de publication : 1997 Importance : 791 p. Langues : Inconnue (und) Tags : FIABILITE SECURITE SURETE DE FONCTIONNEMENT Index. décimale : E3 E3 - Test Sûreté de Fonctionnement des Systèmes Industriels [texte imprimé] / A. VILLEMEUR, Auteur . - [S.l.] : Eyrolles, 1997 . - 791 p.
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Tags : FIABILITE SECURITE SURETE DE FONCTIONNEMENT Index. décimale : E3 E3 - Test Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité E3 / 13670 Papier OUVRAGES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
Titre : Techniques de Conception en vue d'Améliorer la Fiabilité des Mémoires Flash Embarquées Type de document : texte imprimé Auteurs : Benoit GODARD, Auteur Année de publication : 2008 Langues : Français (fre) Tags : FIABILITE MEMOIRE FLASH EMBARQUEES SURETE DE FONCTIONNEMENT TOLERANCE AUX FAUTES CODES CORRECTEURS D'ERREUR REPARATION PAR REDONDANCE GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Résumé : Les mémoires non-volatiles de type Flash sont désormais présentes dans un grand nombre de circuits intégrés utilisés dans des applications électroniques portatives. Leur non-volatilité, faible consommation et flexibilité en font des mémoires extrêmement populaires. Néanmoins, alors qu'elles occupent une partie grandissante de la surface des puces et que de plus en plus d'applications sensibles sont utilisatrices de ces solutions, la fiabilité des mémoires devient un enjeu majeur et une caractéristique à améliorer. Des solutions efficaces de tolérance aux fautes peu coûteuses et faciles à intégrer doivent être mises en place. Dans un premier temps, le travail de cette thèse a été focalisé sur l'analyse et l'étude de la fiabilité des Flash. Il fut l'occasion d'établir un modèle de fiabilité d'une cellule à grille flottante dépendant de nombreux paramètres tels que le nombre de cycles, le temps et la température. Ce modèle a été ajusté suivant les paramètres issus d'une technologie Flash 180 nm. Dans un second temps, le travail s'est focalisé sur la mise au point de deux techniques de tolérance aux fautes mêlant codes correcteurs d'erreurs et redondance. La première technique est basée sur une correction d'erreurs par analyse de VT. Elle permet de fournir des capacités de correction accrues en analysant le niveau de programmation des cellules mémoire de manière analogique. Une étude mathématique puis une architecture de fiabilisation ont été proposées. Dans cette étude, il est supposé qu'un certain nombre de ressources de redondance sont disponibles afin de réparer la mémoire dès lors qu'une erreur est détectée. La seconde technique mise au point est celle de la correction d'erreur hiérarchique. Elle exploite le fait qu'une mémoire Flash n'opère pas sur le même nombre de bits en lecture et en programmation. Ainsi, les capacités de correction peuvent être distribuées différemment dans la mémoire afin de réduire significativement le coût généralement associé à une correction d'erreur avancée. Cette technique a également été intégrée dans une architecture de fiabilisation disposant de ressources de redondance. Une étude mathématique basée sur des Chaines de Markov à Temps Continu a permis de démontrer l'efficacité de cette structure. Les deux techniques mises au point sont des solutions alternatives aux schémas standards couramment utilisés dans l'industrie mais elles permettent d'augmenter de manière significative le temps moyen à la défaillance du système sans pour autant faire exploser la surface nécessaire pour intégrer une structure de tolérance aux fautes. Directeur(s) de thèse : TORRES L. Co-directeur(s) de thèse : SASSATELLI G. Président du jury : GIRARD P. Rapporteur(s) : LEVEUGLE R.;PORTAL J.M. Examinateur(s) : HAMDIOUI S.;DAGA J.M. Date de soutenance : 02/07/2008 Techniques de Conception en vue d'Améliorer la Fiabilité des Mémoires Flash Embarquées [texte imprimé] / Benoit GODARD, Auteur . - 2008.
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Tags : FIABILITE MEMOIRE FLASH EMBARQUEES SURETE DE FONCTIONNEMENT TOLERANCE AUX FAUTES CODES CORRECTEURS D'ERREUR REPARATION PAR REDONDANCE GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Résumé : Les mémoires non-volatiles de type Flash sont désormais présentes dans un grand nombre de circuits intégrés utilisés dans des applications électroniques portatives. Leur non-volatilité, faible consommation et flexibilité en font des mémoires extrêmement populaires. Néanmoins, alors qu'elles occupent une partie grandissante de la surface des puces et que de plus en plus d'applications sensibles sont utilisatrices de ces solutions, la fiabilité des mémoires devient un enjeu majeur et une caractéristique à améliorer. Des solutions efficaces de tolérance aux fautes peu coûteuses et faciles à intégrer doivent être mises en place. Dans un premier temps, le travail de cette thèse a été focalisé sur l'analyse et l'étude de la fiabilité des Flash. Il fut l'occasion d'établir un modèle de fiabilité d'une cellule à grille flottante dépendant de nombreux paramètres tels que le nombre de cycles, le temps et la température. Ce modèle a été ajusté suivant les paramètres issus d'une technologie Flash 180 nm. Dans un second temps, le travail s'est focalisé sur la mise au point de deux techniques de tolérance aux fautes mêlant codes correcteurs d'erreurs et redondance. La première technique est basée sur une correction d'erreurs par analyse de VT. Elle permet de fournir des capacités de correction accrues en analysant le niveau de programmation des cellules mémoire de manière analogique. Une étude mathématique puis une architecture de fiabilisation ont été proposées. Dans cette étude, il est supposé qu'un certain nombre de ressources de redondance sont disponibles afin de réparer la mémoire dès lors qu'une erreur est détectée. La seconde technique mise au point est celle de la correction d'erreur hiérarchique. Elle exploite le fait qu'une mémoire Flash n'opère pas sur le même nombre de bits en lecture et en programmation. Ainsi, les capacités de correction peuvent être distribuées différemment dans la mémoire afin de réduire significativement le coût généralement associé à une correction d'erreur avancée. Cette technique a également été intégrée dans une architecture de fiabilisation disposant de ressources de redondance. Une étude mathématique basée sur des Chaines de Markov à Temps Continu a permis de démontrer l'efficacité de cette structure. Les deux techniques mises au point sont des solutions alternatives aux schémas standards couramment utilisés dans l'industrie mais elles permettent d'augmenter de manière significative le temps moyen à la défaillance du système sans pour autant faire exploser la surface nécessaire pour intégrer une structure de tolérance aux fautes. Directeur(s) de thèse : TORRES L. Co-directeur(s) de thèse : SASSATELLI G. Président du jury : GIRARD P. Rapporteur(s) : LEVEUGLE R.;PORTAL J.M. Examinateur(s) : HAMDIOUI S.;DAGA J.M. Date de soutenance : 02/07/2008 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-08 / 13540 Non renseigné THESES NON CLASSES Disponible
