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Amélioration de la Testabilité des Circuits Séquentiels par Emulation de Configurations de Test / S. LAVABRE

Public ISBD Titre : Amélioration de la Testabilité des Circuits Séquentiels par Emulation de Configurations de Test Type de document : texte imprimé Auteurs : S. LAVABRE, Auteur Année de publication : 1995 Langues : Français (fre) Tags : TECHNIQUE DE TEST  TEST DE CIRCUITS SEQUENTIELS  TESTABILITE  CONCEPTION EN VUE DU TEST  REDUCTION DU TEMPS DE TEST  ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : RUBIO A.;DANTO Y. Examinateur(s) : LANDRAULT C.;RENOVELL M. Date de soutenance : 13/07/1995 Amélioration de la Testabilité des Circuits Séquentiels par Emulation de Configurations de Test [texte imprimé] / S. LAVABRE, Auteur . - 1995. Langues : Français (fre) Tags : TECHNIQUE DE TEST  TEST DE CIRCUITS SEQUENTIELS  TESTABILITE  CONCEPTION EN VUE DU TEST  REDUCTION DU TEMPS DE TEST  ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : RUBIO A.;DANTO Y. Examinateur(s) : LANDRAULT C.;RENOVELL M. Date de soutenance : 13/07/1995

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
THE-95 / 5467	Papier	THESES	NON CLASSES		Disponible