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Advanced Test Methods for SRAMs / A. BOSIO

Public ISBD Titre : Advanced Test Methods for SRAMs Type de document : texte imprimé Auteurs : A. BOSIO, Auteur ; L. DILILLO, Auteur ; P. GIRARD, Auteur ; S. PRAVOSSOUDOVITCH, Auteur ; A. VIRAZEL, Auteur Editeur : Springer Année de publication : 2009 Importance : 171 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-441-90937-4 Langues : Inconnue (und) Tags : mémoire  test,SRAMs Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique Advanced Test Methods for SRAMs [texte imprimé] / A. BOSIO, Auteur ; L. DILILLO, Auteur ; P. GIRARD, Auteur ; S. PRAVOSSOUDOVITCH, Auteur ; A. VIRAZEL, Auteur . - [S.l.] : Springer, 2009 . - 171 p. ISBN : 978-1-441-90937-4 Langues : Inconnue (und) Tags : mémoire  test,SRAMs Index. décimale : E5 E5 - Micro-Electronique

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Exemplaires

Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
E5 / 13784	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Emeric Gioan Sorti jusqu'au 26/02/2011
E5 / 15097	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible
E5 / 15099	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Raphael Brum Sorti jusqu'au 31/10/2011
E5 / 15100	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Emprunté par: Georgios Tsiligiannis Sorti jusqu'au 06/11/2012
E5 / 15101	Papier	OUVRAGES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible