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Réduction de la Consommation durant le Test des Circuits VLSI / L. GUILLER

Public ISBD Titre : Réduction de la Consommation durant le Test des Circuits VLSI Type de document : texte imprimé Auteurs : L. GUILLER, Auteur Année de publication : 2000 Langues : Français (fre) Tags : TEST  TEST INTEGRE  TEST EXTERNE  GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : PRAVOSSOUDOVITCH S. Co-directeur(s) de thèse : GIRARD P. Président du jury : LANDRAULT C. Rapporteur(s) : LEVEUGLE R.;SONZA REORDA M. Examinateur(s) : VERGNIAULT M.;GIRARD P. Date de soutenance : 06/11/2000 Réduction de la Consommation durant le Test des Circuits VLSI [texte imprimé] / L. GUILLER, Auteur . - 2000. Langues : Français (fre) Tags : TEST  TEST INTEGRE  TEST EXTERNE  GENIE INFORMATIQUE, AUTOMATIQUE ET TRAITEMENT DU SIGNAL Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : PRAVOSSOUDOVITCH S. Co-directeur(s) de thèse : GIRARD P. Président du jury : LANDRAULT C. Rapporteur(s) : LEVEUGLE R.;SONZA REORDA M. Examinateur(s) : VERGNIAULT M.;GIRARD P. Date de soutenance : 06/11/2000

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Cote	Support	Localisation	Section	Notes	Disponibilité
THE-00 / 6862	Papier	THESES	NON CLASSES		Disponible