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Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons / D. SAVART

Public ISBD Titre : Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimé Auteurs : D. SAVART, Auteur Année de publication : 1990 Langues : Français (fre) Tags : MICROSCOPIE  TEST  CIRCUIT  V.L.S.I.  ANALYSE DE DEFAILLANCES  CIRCUITS INTEGRES  TEST SANS CONTACT  TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS  TRAITEMENT D'IMAGES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons [texte imprimé] / D. SAVART, Auteur . - 1990. Langues : Français (fre) Tags : MICROSCOPIE  TEST  CIRCUIT  V.L.S.I.  ANALYSE DE DEFAILLANCES  CIRCUITS INTEGRES  TEST SANS CONTACT  TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS  TRAITEMENT D'IMAGES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990

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THE-90 / 3444	Papier	THESES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible

Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons / D. CONARD

Public ISBD Titre : Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimé Auteurs : D. CONARD, Auteur Année de publication : 1991 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT  MICROSCOPIE  FAISCEAU  TEST  CIRCUITS INTEGRES  ANALYSE DE DEFAILLANCES  TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS  TRAITEMENT D'IMAGES  RECONNAISSANCE DE FORMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91033 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : CHEHIKIAN A.;CHION A.;COURTOIS B.;SARFATI M.;SECOURGEON M. Invité(s) : LAURENT J. Date de soutenance : 11/02/1991 Traitement d'Images en Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés par Faisceau d'Electrons [texte imprimé] / D. CONARD, Auteur . - 1991. Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT  MICROSCOPIE  FAISCEAU  TEST  CIRCUITS INTEGRES  ANALYSE DE DEFAILLANCES  TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS  TRAITEMENT D'IMAGES  RECONNAISSANCE DE FORMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91033 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : CHEHIKIAN A.;CHION A.;COURTOIS B.;SARFATI M.;SECOURGEON M. Invité(s) : LAURENT J. Date de soutenance : 11/02/1991

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THE-91 / 3515	Papier	THESES	MICRO-ELECTRONIQUE		Disponible