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Affiner la recherche Interroger des sources externesAmélioration de la Testabilité des Circuits Séquentiels par Emulation de Configurations de Test / S. LAVABRE
Titre : Amélioration de la Testabilité des Circuits Séquentiels par Emulation de Configurations de Test Type de document : texte imprimé Auteurs : S. LAVABRE, Auteur Année de publication : 1995 Langues : Français (fre) Tags : TECHNIQUE DE TEST TEST DE CIRCUITS SEQUENTIELS TESTABILITE CONCEPTION EN VUE DU TEST REDUCTION DU TEMPS DE TEST ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : RUBIO A.;DANTO Y. Examinateur(s) : LANDRAULT C.;RENOVELL M. Date de soutenance : 13/07/1995 Amélioration de la Testabilité des Circuits Séquentiels par Emulation de Configurations de Test [texte imprimé] / S. LAVABRE, Auteur . - 1995.
Langues : Français (fre)
Tags : TECHNIQUE DE TEST TEST DE CIRCUITS SEQUENTIELS TESTABILITE CONCEPTION EN VUE DU TEST REDUCTION DU TEMPS DE TEST ELECTRONIQUE, OPTRONIQUE ET SYSTEMES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : BERTRAND Y. Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : RUBIO A.;DANTO Y. Examinateur(s) : LANDRAULT C.;RENOVELL M. Date de soutenance : 13/07/1995 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-95 / 5467 Papier THESES NON CLASSES Disponible
Titre : Conception en Vue du Test : Du Niveau Comportemental au Niveau Transferts de Registres Type de document : texte imprimé Auteurs : L. VOLPE, Auteur Année de publication : 1999 Langues : Français (fre) Tags : CONCEPTION DE CIRCUITS DIGITAUX TESTABILITE CHAINE DE SCAN Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : ROUZEYRE B. Co-directeur(s) de thèse : FLOTTES M.L. Rapporteur(s) : SONZA REORDA M.;MARTIN E. Examinateur(s) : BERTRAND Y.;LANDRAULT C. Date de soutenance : 26/11/1999 Conception en Vue du Test : Du Niveau Comportemental au Niveau Transferts de Registres [texte imprimé] / L. VOLPE, Auteur . - 1999.
Langues : Français (fre)
Tags : CONCEPTION DE CIRCUITS DIGITAUX TESTABILITE CHAINE DE SCAN Index. décimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : ROUZEYRE B. Co-directeur(s) de thèse : FLOTTES M.L. Rapporteur(s) : SONZA REORDA M.;MARTIN E. Examinateur(s) : BERTRAND Y.;LANDRAULT C. Date de soutenance : 26/11/1999 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-99 / 6622 Papier THESES NON CLASSES Disponible
Titre : Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité Type de document : texte imprimé Auteurs : V. PREPIN, Auteur Année de publication : 1997 Langues : Français (fre) Tags : TEST PSEUDO-ALEATOIRE TESTABILITE COUVERTURE DE FAUTES LONGUEUR DE TEST SIMULATION COURTE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : NICOLAIDIS M. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;THEVENOD-FOSSE P. Examinateur(s) : DAVID R.;JACOMINO M. Date de soutenance : 02/07/1997 Test Aléatoire de Circuits Combinatoires. Nouvelle Mesure de Testabilité [texte imprimé] / V. PREPIN, Auteur . - 1997.
Langues : Français (fre)
Tags : TEST PSEUDO-ALEATOIRE TESTABILITE COUVERTURE DE FAUTES LONGUEUR DE TEST SIMULATION COURTE CIRCUITS COMBINATOIRES Index. décimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : NICOLAIDIS M. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;THEVENOD-FOSSE P. Examinateur(s) : DAVID R.;JACOMINO M. Date de soutenance : 02/07/1997 Réservation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-97 / 6070 Papier THESES NON CLASSES Disponible
