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THESES
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-02 / 7249 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Emprunté par: Pascal Benoit
Sorti jusqu'au 01/09/2011Documents numériques
Fichier (PDF)URLAlgorithmes de Testabilité basés sur la Description à Deux-niveaux "Groupe-E-Concurrente" des Fonctions Logiques / M. BOUDJIT
Titre : Algorithmes de TestabilitĂ© basĂ©s sur la Description Ă Deux-niveaux "Groupe-E-Concurrente" des Fonctions Logiques Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : M. BOUDJIT, Auteur AnnĂ©e de publication : 1995 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUITS AUTO-CONTROLABLES CIRCUITS FORTEMENT SURS EN PRESENCE DE DEFAUTS CONTROLEURS GVT JUSTIFICATION PROPAGATION D'ERREUR Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : LANDRAULT C. Rapporteur(s) : PRINETTO P.;BOUVIER G. Examinateur(s) : NICOLAIDIS M. Date de soutenance : 19/05/1995 Algorithmes de TestabilitĂ© basĂ©s sur la Description Ă Deux-niveaux "Groupe-E-Concurrente" des Fonctions Logiques [texte imprimĂ©] / M. BOUDJIT, Auteur . - 1995.
Langues : Français (fre)
Tags : CIRCUITS AUTO-CONTROLABLES CIRCUITS FORTEMENT SURS EN PRESENCE DE DEFAUTS CONTROLEURS GVT JUSTIFICATION PROPAGATION D'ERREUR Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : LANDRAULT C. Rapporteur(s) : PRINETTO P.;BOUVIER G. Examinateur(s) : NICOLAIDIS M. Date de soutenance : 19/05/1995 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-95 / 5411 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible An Integrated System-Level Design for Testability Methodology / E. LARSSON
Titre : An Integrated System-Level Design for Testability Methodology Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : E. LARSSON, Auteur AnnĂ©e de publication : 2000 Langues : Français (fre) Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Date de soutenance : 15/01/2000 An Integrated System-Level Design for Testability Methodology [texte imprimĂ©] / E. LARSSON, Auteur . - 2000.
Langues : Français (fre)
Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Date de soutenance : 15/01/2000 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-00 / 6905 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Analyse de Défaillances de Circuits Intégrés VLSI par Testeur à Faisceau d'Electrons / D. SAVART
Titre : Analyse de DĂ©faillances de Circuits IntĂ©grĂ©s VLSI par Testeur Ă Faisceau d'Electrons Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : D. SAVART, Auteur AnnĂ©e de publication : 1990 Langues : Français (fre) Tags : MICROSCOPIE TEST CIRCUIT V.L.S.I. ANALYSE DE DEFAILLANCES CIRCUITS INTEGRES TEST SANS CONTACT TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 Analyse de DĂ©faillances de Circuits IntĂ©grĂ©s VLSI par Testeur Ă Faisceau d'Electrons [texte imprimĂ©] / D. SAVART, Auteur . - 1990.
Langues : Français (fre)
Tags : MICROSCOPIE TEST CIRCUIT V.L.S.I. ANALYSE DE DEFAILLANCES CIRCUITS INTEGRES TEST SANS CONTACT TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS TRAITEMENT D'IMAGES Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 90093 Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : COLLIN J.P.;COURTOIS B.;PISTOULET B.;VERNAY Y.J. Date de soutenance : 27/06/1990 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-90 / 3444 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible L'analyse statistique de l'impact des variations locales sur les courses à signaux dans une mémoire SRAM embarquée / Michael KELVYN YAP SAN MIN
Titre : L'analyse statistique de l'impact des variations locales sur les courses Ă signaux dans une mĂ©moire SRAM embarquĂ©e Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : Michael KELVYN YAP SAN MIN, Auteur AnnĂ©e de publication : 2008 Langues : Français (fre) Tags : SRAM Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : ROBERT M. Président du jury : PRAVOSSOUDOVITCH S. Rapporteur(s) : LEVEUGLE R.;PORTAL J.M. Examinateur(s) : MAURINE P.;BASTIAN M.;CHANUSSOT C. Date de soutenance : 21/01/2008 L'analyse statistique de l'impact des variations locales sur les courses Ă signaux dans une mĂ©moire SRAM embarquĂ©e [texte imprimĂ©] / Michael KELVYN YAP SAN MIN, Auteur . - 2008.
Langues : Français (fre)
Tags : SRAM Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Directeur(s) de thèse : ROBERT M. Président du jury : PRAVOSSOUDOVITCH S. Rapporteur(s) : LEVEUGLE R.;PORTAL J.M. Examinateur(s) : MAURINE P.;BASTIAN M.;CHANUSSOT C. Date de soutenance : 21/01/2008 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-08 / 13454 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Approche à base de Logique Floue pour le Test et le Diagnostic des Circuits Analogiques / Firas MOHAMED
Titre : Approche Ă base de Logique Floue pour le Test et le Diagnostic des Circuits Analogiques Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : Firas MOHAMED, Auteur AnnĂ©e de publication : 1997 Langues : Français (fre) Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;OSSEIRAN A. Examinateur(s) : COURTOIS B.;DERIEUX A.;MARZOUKI M. Date de soutenance : 03/07/1997 Approche Ă base de Logique Floue pour le Test et le Diagnostic des Circuits Analogiques [texte imprimĂ©] / Firas MOHAMED, Auteur . - 1997.
Langues : Français (fre)
Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Président du jury : GENTIL P. Rapporteur(s) : LANDRAULT C.;OSSEIRAN A. Examinateur(s) : COURTOIS B.;DERIEUX A.;MARZOUKI M. Date de soutenance : 03/07/1997 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-97 / 6071 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Architecture et Validation Comportementale en VHDL d'un Calculateur Parallèle Dédié à la Vision / T. COLLETTE
Titre : Architecture et Validation Comportementale en VHDL d'un Calculateur Parallèle DĂ©diĂ© Ă la Vision Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : T. COLLETTE, Auteur AnnĂ©e de publication : 1992 Langues : Français (fre) Tags : V.L.S.I. SIMULATION ARCHITECTURE VISION TRAITEMENT D'IMAGES DE MOYEN NIVEAU PARALLELISME RESEAU MULTIPROCESSEUR SIMULATION COMPORTEMENTALE CONCEPTION ELECTRONIQUE SIMD VHDL SYMPATI Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 92031 Président du jury : BASILLE J.L. Rapporteur(s) : GALLICE J.;LANDRAULT C. Examinateur(s) : COURTOIS B.;GUYOT A.;JUVIN D.;KAISER J. Date de soutenance : 14/09/1992 Architecture et Validation Comportementale en VHDL d'un Calculateur Parallèle DĂ©diĂ© Ă la Vision [texte imprimĂ©] / T. COLLETTE, Auteur . - 1992.
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Tags : V.L.S.I. SIMULATION ARCHITECTURE VISION TRAITEMENT D'IMAGES DE MOYEN NIVEAU PARALLELISME RESEAU MULTIPROCESSEUR SIMULATION COMPORTEMENTALE CONCEPTION ELECTRONIQUE SIMD VHDL SYMPATI Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 92031 Président du jury : BASILLE J.L. Rapporteur(s) : GALLICE J.;LANDRAULT C. Examinateur(s) : COURTOIS B.;GUYOT A.;JUVIN D.;KAISER J. Date de soutenance : 14/09/1992 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-92 / 3625 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Circuits Reconfigurables Robustes / J.M. DUTERTRE
Titre : Circuits Reconfigurables Robustes Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : J.M. DUTERTRE, Auteur AnnĂ©e de publication : 2002 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUITS RECONFIGURABLES FPGA SRAM Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat RĂ©sumĂ© : Cette thèse est consacrĂ©e Ă l'Ă©tude de solutions de durcissement des circuits reconfigurables Ă base de SRAM aux effets radiatifs singuliers. Un partitionnement symbolique des FPGA en une couche de configuration et une couche opĂ©rative a permis de mettre en Ă©vidence et de hiĂ©rarchiser les erreurs d'origine radiative. C'est l'Ă©ventuelle inversion de bits de configuration qui est le principal facteur limitant l'usage des FPGA en milieu radiatif. Après avoir Ă©tudiĂ© les solutions actuellement retenues, nous prĂ©sentons deux approches permettant d'assurer leur durcissement. La première approche est basĂ©e sur la restructuration des inverseurs et des Ă©lĂ©ments de mĂ©morisation au niveau de l'agencement de leurs transistors. Elle permet de durcir efficacement la couche opĂ©rative aux effets singuliers. Elle est Ă©galement adaptĂ©e au durcissement de la couche de configuration, mais au prix d'un surcoĂ»t en surface important. La deuxième approche repose sur l'utilisation d'un code dĂ©tecteur et correcteur d'erreurs par test de la paritĂ©. Elle est dĂ©diĂ©e au durcissement de la couche de configuration. Un circuit test est Ă©galement prĂ©sentĂ© afin de valider expĂ©rimentalement les principes de durcissement par restructuration que nous avons utilisĂ©s.
This thesis is devoted to the development of Single Event Upset hardness methodologies dedicated to SRAM based FPGA. SEU may alter the FPGA function through induced errors in the configuration memory. This is the major concern about the use of FPGA in radiation environment. Furthermore they affect the user logic in a similar way than classical integrated circuits. Thanks to restructuration of their transistors arrangement and number, we propose a new inverter and data latch architectures. It allows us to define an SEU proof architecture for user logic hardness. This method is although applicable to harden the configuration memory. However it is area consuming. So we propose a second methodology dedicated to the configuration memory. It is an Error Correction And Detection algorithm based on parity testing. Finally we present the test circuit we designed to validate the restructurating approach.Directeur(s) de thèse : ROCHE F.M. Président du jury : BERTRAND Y. Rapporteur(s) : FOUILLAT P.;NICOLAIDIS M. Examinateur(s) : CATHEBRAS G.;MICHEL J. Date de soutenance : 30/10/2002 Circuits Reconfigurables Robustes [texte imprimĂ©] / J.M. DUTERTRE, Auteur . - 2002.
Langues : Français (fre)
Tags : CIRCUITS RECONFIGURABLES FPGA SRAM Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat RĂ©sumĂ© : Cette thèse est consacrĂ©e Ă l'Ă©tude de solutions de durcissement des circuits reconfigurables Ă base de SRAM aux effets radiatifs singuliers. Un partitionnement symbolique des FPGA en une couche de configuration et une couche opĂ©rative a permis de mettre en Ă©vidence et de hiĂ©rarchiser les erreurs d'origine radiative. C'est l'Ă©ventuelle inversion de bits de configuration qui est le principal facteur limitant l'usage des FPGA en milieu radiatif. Après avoir Ă©tudiĂ© les solutions actuellement retenues, nous prĂ©sentons deux approches permettant d'assurer leur durcissement. La première approche est basĂ©e sur la restructuration des inverseurs et des Ă©lĂ©ments de mĂ©morisation au niveau de l'agencement de leurs transistors. Elle permet de durcir efficacement la couche opĂ©rative aux effets singuliers. Elle est Ă©galement adaptĂ©e au durcissement de la couche de configuration, mais au prix d'un surcoĂ»t en surface important. La deuxième approche repose sur l'utilisation d'un code dĂ©tecteur et correcteur d'erreurs par test de la paritĂ©. Elle est dĂ©diĂ©e au durcissement de la couche de configuration. Un circuit test est Ă©galement prĂ©sentĂ© afin de valider expĂ©rimentalement les principes de durcissement par restructuration que nous avons utilisĂ©s.
This thesis is devoted to the development of Single Event Upset hardness methodologies dedicated to SRAM based FPGA. SEU may alter the FPGA function through induced errors in the configuration memory. This is the major concern about the use of FPGA in radiation environment. Furthermore they affect the user logic in a similar way than classical integrated circuits. Thanks to restructuration of their transistors arrangement and number, we propose a new inverter and data latch architectures. It allows us to define an SEU proof architecture for user logic hardness. This method is although applicable to harden the configuration memory. However it is area consuming. So we propose a second methodology dedicated to the configuration memory. It is an Error Correction And Detection algorithm based on parity testing. Finally we present the test circuit we designed to validate the restructurating approach.Directeur(s) de thèse : ROCHE F.M. Président du jury : BERTRAND Y. Rapporteur(s) : FOUILLAT P.;NICOLAIDIS M. Examinateur(s) : CATHEBRAS G.;MICHEL J. Date de soutenance : 30/10/2002 Exemplaires
Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-02 / 7425 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Exclu du prêt Codage d'Automates et Théorie des Cubes Intersectants / C. DUFF
Titre : Codage d'Automates et ThĂ©orie des Cubes Intersectants Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : C. DUFF, Auteur AnnĂ©e de publication : 1991 Langues : Français (fre) Tags : CODE COMBINATOIRE V.L.S.I. CODAGE D'AUTOMATES CUBE INTERSECTANT Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91092 Président du jury : MOSSIERE J. Rapporteur(s) : SAUCIER G.;DE MICHELI G.;COSTES A.;BRAYTON R.;CAMPOSANO R. Date de soutenance : 01/03/1991 Codage d'Automates et ThĂ©orie des Cubes Intersectants [texte imprimĂ©] / C. DUFF, Auteur . - 1991.
Langues : Français (fre)
Tags : CODE COMBINATOIRE V.L.S.I. CODAGE D'AUTOMATES CUBE INTERSECTANT Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91092 Président du jury : MOSSIERE J. Rapporteur(s) : SAUCIER G.;DE MICHELI G.;COSTES A.;BRAYTON R.;CAMPOSANO R. Date de soutenance : 01/03/1991 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-91 / 3574 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Conception et Réalisation d'un Processeur pour une Architecture Cellulaire Massivement Parallèle Intégrée / M. KARABERNOU
Titre : Conception et RĂ©alisation d'un Processeur pour une Architecture Cellulaire Massivement Parallèle IntĂ©grĂ©e Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : M. KARABERNOU, Auteur AnnĂ©e de publication : 1993 Langues : Français (fre) Tags : ARCHITECTURE PARALLELE COMMUNICATION WORMHOLE JEU D'INSTRUCTIONS CHEMIN DE DONNEES CONTROLE CIRCUIT INTEGRE VLSI ROBOTIQUE MOBILE APPLICATION Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 87076 Président du jury : CHIARAMELLA Y. Rapporteur(s) : GARDA P.;ROUZEYRE B.;MAZARE G.;MICHEL G.;GUYOT A. Date de soutenance : 08/07/1993 Conception et RĂ©alisation d'un Processeur pour une Architecture Cellulaire Massivement Parallèle IntĂ©grĂ©e [texte imprimĂ©] / M. KARABERNOU, Auteur . - 1993.
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Tags : ARCHITECTURE PARALLELE COMMUNICATION WORMHOLE JEU D'INSTRUCTIONS CHEMIN DE DONNEES CONTROLE CIRCUIT INTEGRE VLSI ROBOTIQUE MOBILE APPLICATION Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 87076 Président du jury : CHIARAMELLA Y. Rapporteur(s) : GARDA P.;ROUZEYRE B.;MAZARE G.;MICHEL G.;GUYOT A. Date de soutenance : 08/07/1993 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-93 / 3121 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Contribution à la Conception, la Modélisation et la Reconfiguration des Systèmes Intégrés Logiciels/Matériels / L. TORRES
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Titre : Contribution Ă la Conception, la ModĂ©lisation et la Reconfiguration des Systèmes IntĂ©grĂ©s Logiciels/MatĂ©riels Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : L. TORRES, Auteur AnnĂ©e de publication : 2002 Langues : Français (fre) Index. dĂ©cimale : HDR Habilitation à diriger des Recherches Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : AUGUIN M.;GENTIL P. Examinateur(s) : PAINDAVOINE M.;ROBERT M. Date de soutenance : 14/11/2002 Contribution Ă la Conception, la ModĂ©lisation et la Reconfiguration des Systèmes IntĂ©grĂ©s Logiciels/MatĂ©riels [texte imprimĂ©] / L. TORRES, Auteur . - 2002.
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Index. dĂ©cimale : HDR Habilitation à diriger des Recherches Président du jury : CAMBON G. Rapporteur(s) : AUGUIN M.;GENTIL P. Examinateur(s) : PAINDAVOINE M.;ROBERT M. Date de soutenance : 14/11/2002 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité HDR-02 / 7020 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Documents numériques
Partie 1 (PDF)URL
Partie 2 (PDF)URLContribution à la Modélisation des Fautes dans les Circuits Intégrés MOS / M. RENOVELL
Titre : Contribution Ă la ModĂ©lisation des Fautes dans les Circuits IntĂ©grĂ©s MOS Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : M. RENOVELL, Auteur AnnĂ©e de publication : 1986 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT M.O.S. MODELE Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 86024 Date de soutenance : 02/05/1986 Contribution Ă la ModĂ©lisation des Fautes dans les Circuits IntĂ©grĂ©s MOS [texte imprimĂ©] / M. RENOVELL, Auteur . - 1986.
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Tags : CIRCUIT M.O.S. MODELE Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 86024 Date de soutenance : 02/05/1986 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes DisponibilitĂ© THE-86 / 2951 Non renseigné THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Contribution au Placement et Ă l'Interconnexion de Cellules Virtuelles pour la Synthèse Topologique de Circuits CMOS / L. PELLIER
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Titre : Contribution au Placement et Ă l'Interconnexion de Cellules Virtuelles pour la Synthèse Topologique de Circuits CMOS Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : L. PELLIER, Auteur AnnĂ©e de publication : 2003 Langues : Français (fre) Tags : BIBLIOTHEQUE VIRTUELLE PROTOTYPAGE MIGRATION RAPIDE SYNTHESE DU DESSIN DES MASQUES AU NIVEAU TRANSISTOR BIBLIOTHEQUE VIRTUELLE OUTIL LOGICIEL DE CONCEPTION PROTOTYPAGE MIGRATION RAPIDE TRANSISTOR LEVEL LAYOUT SYNTHESIS VIRTUAL LIBRARY CAD TOOLS PROTOTYPING FAST MIGRATION Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat RĂ©sumĂ© : Synthèse automatique du dessin des masques au niveau transistor Les contraintes imposĂ©es au concepteur de circuits intĂ©grĂ©s sont de plus en plus fortes. Elles portent Ă la fois sur la surface, les performances temporelles et la consommation. Le concepteur est souvent amenĂ© Ă trouver un compromis entre ces diffĂ©rentes contraintes. Dans ce cadre les mĂ©thodes de conception gĂ©nĂ©ralement utilisĂ©es qui sont basĂ©es sur le concept de bibliothèque de cellules standards montrent certaines limites. Il est en effet de plus en plus frĂ©quent que les cellules disponibles dans la bibliothèque soient trop gĂ©nĂ©riques. Il en rĂ©sulte que les blocs gĂ©nĂ©rĂ©s ne sont pas optimaux soit en terme de surface, de dĂ©lai ou de consommation. L'approche dĂ©crite dans ce mĂ©moire de doctorat permet de s'affranchir de l'utilisation d'une bibliothèque de cellules prĂ©-caractĂ©risĂ©es. Elle est basĂ©e sur le concept original de cellule virtuelle. Ce document prĂ©sente plus particulièrement l'Ă©tape relative au placement et au routage de ces cellules. Une des premières consĂ©quences de la suppression des contraintes liĂ©es au temps de dĂ©veloppement des bibliothèques de cellules standards est de permettre la gĂ©nĂ©ration et l'Ă©valuation très rapides des performances du bloc en cours de conception. De plus le grand nombre de fonctionnalitĂ©s disponibles dans la bibliothèque de cellules virtuelles et la possibilitĂ© de retailler de façon continue les transistors permettent de constituer une solution aux problèmes liĂ©s Ă la conception de blocs optimisĂ©s dans les technologies sous-microniques actuelles. Les premières validations ont montrĂ© que le logiciel dĂ©veloppĂ©, appelĂ© I2P2, afin d'implĂ©menter ce flot de conception prĂ©sente de nombreuse applications : conception de bloc d'IP, prototypage rapide et conception de circuit spĂ©cifique (circuit asynchrone). Les premiers rĂ©sultats ont montrĂ© que cette approche de conception est susceptible de conduire Ă des gains importants en terme de surface et de consommation tout en permettant une migration rapide vers les nouvelles technologies.
Automatic transistor level layout synthesis IC Designers are today facing more and more constraints. Designs need to be optimized in terms of timing, power and area. Designers often have to reach a trade-off between all these constraints. With the emergence of new technologies and the increasing complexity of designs, standard cell libraries, vastly used for years in industry, become less and less attractive. Most of the time, cells are too generic and not well suited to the block being created. As a result the final design is not well optimized in terms of timing, power and area. In this thesis, we introduce a methodology that avoids employing a standard cell library. It is based on an original concept called virtual cells. This document mainly presents the virtual cells placement and routing step. One of the main benefits of avoiding the time needed to develop a standard cell library is the possibility to quickly evaluate the performances of the currently designed circuit. Moreover, the high number of different logic functions in the virtual library and the continuous resizing capability for each transistor appear like a solution to design well optimized circuit for the new deep sub-micron technologies. First validations of this flow show that the associated software, called I2P2, enable a wide range of various applications: IP block conception, fast prototyping and specific circuit generation (such as asynchronous design). First results show that our approach may give significant benefits regarding timing, power and area and moreover to migrate quickly and easily from one technology to another.Directeur(s) de thèse : ROBERT M. Président du jury : RENAUDIN M. Rapporteur(s) : JACQUEMOD G.;AUGUIN M. Examinateur(s) : AUVERGNE D. Date de soutenance : 10/10/2003 Contribution au Placement et Ă l'Interconnexion de Cellules Virtuelles pour la Synthèse Topologique de Circuits CMOS [texte imprimĂ©] / L. PELLIER, Auteur . - 2003.
Langues : Français (fre)
Tags : BIBLIOTHEQUE VIRTUELLE PROTOTYPAGE MIGRATION RAPIDE SYNTHESE DU DESSIN DES MASQUES AU NIVEAU TRANSISTOR BIBLIOTHEQUE VIRTUELLE OUTIL LOGICIEL DE CONCEPTION PROTOTYPAGE MIGRATION RAPIDE TRANSISTOR LEVEL LAYOUT SYNTHESIS VIRTUAL LIBRARY CAD TOOLS PROTOTYPING FAST MIGRATION Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat RĂ©sumĂ© : Synthèse automatique du dessin des masques au niveau transistor Les contraintes imposĂ©es au concepteur de circuits intĂ©grĂ©s sont de plus en plus fortes. Elles portent Ă la fois sur la surface, les performances temporelles et la consommation. Le concepteur est souvent amenĂ© Ă trouver un compromis entre ces diffĂ©rentes contraintes. Dans ce cadre les mĂ©thodes de conception gĂ©nĂ©ralement utilisĂ©es qui sont basĂ©es sur le concept de bibliothèque de cellules standards montrent certaines limites. Il est en effet de plus en plus frĂ©quent que les cellules disponibles dans la bibliothèque soient trop gĂ©nĂ©riques. Il en rĂ©sulte que les blocs gĂ©nĂ©rĂ©s ne sont pas optimaux soit en terme de surface, de dĂ©lai ou de consommation. L'approche dĂ©crite dans ce mĂ©moire de doctorat permet de s'affranchir de l'utilisation d'une bibliothèque de cellules prĂ©-caractĂ©risĂ©es. Elle est basĂ©e sur le concept original de cellule virtuelle. Ce document prĂ©sente plus particulièrement l'Ă©tape relative au placement et au routage de ces cellules. Une des premières consĂ©quences de la suppression des contraintes liĂ©es au temps de dĂ©veloppement des bibliothèques de cellules standards est de permettre la gĂ©nĂ©ration et l'Ă©valuation très rapides des performances du bloc en cours de conception. De plus le grand nombre de fonctionnalitĂ©s disponibles dans la bibliothèque de cellules virtuelles et la possibilitĂ© de retailler de façon continue les transistors permettent de constituer une solution aux problèmes liĂ©s Ă la conception de blocs optimisĂ©s dans les technologies sous-microniques actuelles. Les premières validations ont montrĂ© que le logiciel dĂ©veloppĂ©, appelĂ© I2P2, afin d'implĂ©menter ce flot de conception prĂ©sente de nombreuse applications : conception de bloc d'IP, prototypage rapide et conception de circuit spĂ©cifique (circuit asynchrone). Les premiers rĂ©sultats ont montrĂ© que cette approche de conception est susceptible de conduire Ă des gains importants en terme de surface et de consommation tout en permettant une migration rapide vers les nouvelles technologies.
Automatic transistor level layout synthesis IC Designers are today facing more and more constraints. Designs need to be optimized in terms of timing, power and area. Designers often have to reach a trade-off between all these constraints. With the emergence of new technologies and the increasing complexity of designs, standard cell libraries, vastly used for years in industry, become less and less attractive. Most of the time, cells are too generic and not well suited to the block being created. As a result the final design is not well optimized in terms of timing, power and area. In this thesis, we introduce a methodology that avoids employing a standard cell library. It is based on an original concept called virtual cells. This document mainly presents the virtual cells placement and routing step. One of the main benefits of avoiding the time needed to develop a standard cell library is the possibility to quickly evaluate the performances of the currently designed circuit. Moreover, the high number of different logic functions in the virtual library and the continuous resizing capability for each transistor appear like a solution to design well optimized circuit for the new deep sub-micron technologies. First validations of this flow show that the associated software, called I2P2, enable a wide range of various applications: IP block conception, fast prototyping and specific circuit generation (such as asynchronous design). First results show that our approach may give significant benefits regarding timing, power and area and moreover to migrate quickly and easily from one technology to another.Directeur(s) de thèse : ROBERT M. Président du jury : RENAUDIN M. Rapporteur(s) : JACQUEMOD G.;AUGUIN M. Examinateur(s) : AUVERGNE D. Date de soutenance : 10/10/2003 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-03 / 9868 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Documents numériques
Fichier (ZIP)URLContrôle de Performance de Circuits Analogiques après la Mise en Boîtier / S. LAVILLE
Titre : ContrĂ´le de Performance de Circuits Analogiques après la Mise en BoĂ®tier Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : S. LAVILLE, Auteur AnnĂ©e de publication : 2002 Langues : Français (fre) Tags : CIRCUIT ANALOGIQUE PERFORMANCE PRECISION CIRCUIT ANALOGIQUE PERFORMANCES PRECISION AJUSTEMENT APRES ASSEMBLAGE TRANSISTOR "SNAP-BACK" POST PACKAGING TRIMMING TECHNIQUE ON ANALOG CIRCUITS ANALOG CIRCUIT PERFORMANCES ACCURACY TRIMMING AFTER PACKAGING SNAP-BACK TRANSISTOR Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat RĂ©sumĂ© : Le contrĂ´le des performances des structures analogiques constitue un objectif de conception majeur. L'Ă©volution des technologies et la diminution rĂ©sultante des tensions d'alimentation rend ce contrĂ´le de plus en plus dĂ©licat. L'objectif de cette thèse est de proposer un nouveau système d'ajustement des performances des circuits analogiques après la mise en boĂ®tier sans l'utilisation de broche dĂ©diĂ©e. Après avoir situĂ© le travail dans son contexte, nous avons, dans le chapitre II, prĂ©sentĂ© l'Ă©tat de l'art des techniques utilisĂ©es Ă ce jour et proposĂ© un nouveau concept d'ajustement après la mise en boĂ®tier. Dans le chapitre III, nous avons caractĂ©risĂ© un nouveau composant claquable, le transistor NMOS "snap-back". Nous avons en premier lieu dĂ©fini ces modes de fonctionnement. Ensuite, la validation a Ă©tĂ© effectuĂ©e sur ce composant dans une technologie BiCMOS 0.7mm. Nous avons dĂ©veloppĂ© deux systèmes d'ajustement des performances adaptĂ©s aux brochages des circuits considĂ©rĂ©s. Le premier dĂ©veloppĂ© pour les amplificateurs opĂ©rationnels a Ă©tĂ© validĂ© (chapitre IV). Il permet un contrĂ´le des performances transparent pour l'utilisateur sans ajout de broche supplĂ©mentaire et ceci pour un coĂ»t de surface très faible. Le deuxième a Ă©tĂ© spĂ©cialement adaptĂ© aux rĂ©fĂ©rences de tension qui ne disposent que de deux broches externes (chapitre V). Ces deux systèmes de contrĂ´le des performances ont Ă©tĂ© intĂ©grĂ©s dans ces circuits analogiques industriels, les techniques ont Ă©tĂ© validĂ©es sur testeurs industriels en mettant en Ă©vidence leur faisabilitĂ© industrielle prenant en compte la surface du dispositif et le temps de test industriel (chapitre VI). Enfin, dans le dernier chapitre, nous avons prĂ©sentĂ© la validation et la faisabilitĂ© industrielles de ces deux systèmes de contrĂ´le des performances des circuits analogiques. Chaque technique a Ă©tĂ© validĂ©e sur testeur. Nous avons mis en Ă©vidence la faisabilitĂ© industrielle en prenant en considĂ©ration la surface d'encombrement du dispositif et le temps de test global du circuit. Enfin, la fiabilitĂ© de ces systèmes a Ă©tĂ© dĂ©montrĂ©e.
In view of the dramatic reduction of the integrated device dimensions and supply voltage, accuracy becomes more and more critic in the chip development loop. This reduction restricted error tolerance. The aim of this thesis is to propose a new post packaging trimming technique to control parameters on analog circuits without extra pins. After a brief presentation of the work context, we give in chapter II the art state of presents techniques and presented a new trimming technique after packaging. In chapter III, we characterise a new blowing component, the MOS snap-back transistor. In the first step, we define these operating modes. Then, the blowing component is validated in a 0.7mm BiCMOS process. In chapter IV, the op-amp integrated offset trimming technique operated after packaging is presented. The market constraints imply to supply these components at lower price and smaller package but constant pin out. More over a special inhibition circuit has been added to preserve the component from any erroneous trimming modification. This trimming architecture has been integrated to adjust the input offset voltage of a specific op-amp. This architecture incompatible to adjust voltage reference because have only two pins, is a new architecture which is developed in chapter V. Finally, in the last chapter, experimental validation of an op-amp and voltage reference integrated in a BiCMOS 0.7mm process gave evidence of the reliability and feasibility of these techniques.Directeur(s) de thèse : Auvergne D. Président du jury : Dufaza C. Rapporteur(s) : Kaiser A.;Fouillat P. Examinateur(s) : Lemaitre R.;Pontarollo S. Invité(s) : Majoux M.B. Date de soutenance : 11/10/2002 ContrĂ´le de Performance de Circuits Analogiques après la Mise en BoĂ®tier [texte imprimĂ©] / S. LAVILLE, Auteur . - 2002.
Langues : Français (fre)
Tags : CIRCUIT ANALOGIQUE PERFORMANCE PRECISION CIRCUIT ANALOGIQUE PERFORMANCES PRECISION AJUSTEMENT APRES ASSEMBLAGE TRANSISTOR "SNAP-BACK" POST PACKAGING TRIMMING TECHNIQUE ON ANALOG CIRCUITS ANALOG CIRCUIT PERFORMANCES ACCURACY TRIMMING AFTER PACKAGING SNAP-BACK TRANSISTOR Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat RĂ©sumĂ© : Le contrĂ´le des performances des structures analogiques constitue un objectif de conception majeur. L'Ă©volution des technologies et la diminution rĂ©sultante des tensions d'alimentation rend ce contrĂ´le de plus en plus dĂ©licat. L'objectif de cette thèse est de proposer un nouveau système d'ajustement des performances des circuits analogiques après la mise en boĂ®tier sans l'utilisation de broche dĂ©diĂ©e. Après avoir situĂ© le travail dans son contexte, nous avons, dans le chapitre II, prĂ©sentĂ© l'Ă©tat de l'art des techniques utilisĂ©es Ă ce jour et proposĂ© un nouveau concept d'ajustement après la mise en boĂ®tier. Dans le chapitre III, nous avons caractĂ©risĂ© un nouveau composant claquable, le transistor NMOS "snap-back". Nous avons en premier lieu dĂ©fini ces modes de fonctionnement. Ensuite, la validation a Ă©tĂ© effectuĂ©e sur ce composant dans une technologie BiCMOS 0.7mm. Nous avons dĂ©veloppĂ© deux systèmes d'ajustement des performances adaptĂ©s aux brochages des circuits considĂ©rĂ©s. Le premier dĂ©veloppĂ© pour les amplificateurs opĂ©rationnels a Ă©tĂ© validĂ© (chapitre IV). Il permet un contrĂ´le des performances transparent pour l'utilisateur sans ajout de broche supplĂ©mentaire et ceci pour un coĂ»t de surface très faible. Le deuxième a Ă©tĂ© spĂ©cialement adaptĂ© aux rĂ©fĂ©rences de tension qui ne disposent que de deux broches externes (chapitre V). Ces deux systèmes de contrĂ´le des performances ont Ă©tĂ© intĂ©grĂ©s dans ces circuits analogiques industriels, les techniques ont Ă©tĂ© validĂ©es sur testeurs industriels en mettant en Ă©vidence leur faisabilitĂ© industrielle prenant en compte la surface du dispositif et le temps de test industriel (chapitre VI). Enfin, dans le dernier chapitre, nous avons prĂ©sentĂ© la validation et la faisabilitĂ© industrielles de ces deux systèmes de contrĂ´le des performances des circuits analogiques. Chaque technique a Ă©tĂ© validĂ©e sur testeur. Nous avons mis en Ă©vidence la faisabilitĂ© industrielle en prenant en considĂ©ration la surface d'encombrement du dispositif et le temps de test global du circuit. Enfin, la fiabilitĂ© de ces systèmes a Ă©tĂ© dĂ©montrĂ©e.
In view of the dramatic reduction of the integrated device dimensions and supply voltage, accuracy becomes more and more critic in the chip development loop. This reduction restricted error tolerance. The aim of this thesis is to propose a new post packaging trimming technique to control parameters on analog circuits without extra pins. After a brief presentation of the work context, we give in chapter II the art state of presents techniques and presented a new trimming technique after packaging. In chapter III, we characterise a new blowing component, the MOS snap-back transistor. In the first step, we define these operating modes. Then, the blowing component is validated in a 0.7mm BiCMOS process. In chapter IV, the op-amp integrated offset trimming technique operated after packaging is presented. The market constraints imply to supply these components at lower price and smaller package but constant pin out. More over a special inhibition circuit has been added to preserve the component from any erroneous trimming modification. This trimming architecture has been integrated to adjust the input offset voltage of a specific op-amp. This architecture incompatible to adjust voltage reference because have only two pins, is a new architecture which is developed in chapter V. Finally, in the last chapter, experimental validation of an op-amp and voltage reference integrated in a BiCMOS 0.7mm process gave evidence of the reliability and feasibility of these techniques.Directeur(s) de thèse : Auvergne D. Président du jury : Dufaza C. Rapporteur(s) : Kaiser A.;Fouillat P. Examinateur(s) : Lemaitre R.;Pontarollo S. Invité(s) : Majoux M.B. Date de soutenance : 11/10/2002 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-02 / 7406 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible Controller Synthesis for Application Specific Integrated Circuits / RUMI ZAHIR
Titre : Controller Synthesis for Application Specific Integrated Circuits Type de document : texte imprimĂ© Auteurs : RUMI ZAHIR, Auteur AnnĂ©e de publication : 1991 Langues : Français (fre) Tags : V.L.S.I. CIRCUIT Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91101 Date de soutenance : 01/01/1991 Controller Synthesis for Application Specific Integrated Circuits [texte imprimĂ©] / RUMI ZAHIR, Auteur . - 1991.
Langues : Français (fre)
Tags : V.L.S.I. CIRCUIT Index. dĂ©cimale : THE Thèses de doctorat Note de contenu : LAMM 91101 Date de soutenance : 01/01/1991 RĂ©servation
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Cote Support Localisation Section Notes Disponibilité THE-91 / 3583 Papier THESES MICRO-ELECTRONIQUE Disponible
Habilitation à diriger des Recherches

