Evolution et tendances du test des signaux et circuits mixtes : exemple de la photonique
par Adam Osseiran, Université de Perh, Australie

Lundi 15 mars, de 14h à 15h
Salle des séminaires du LIRMM

Résumé
La relation entre les signaux et la structure des circuits dans lesquels ils se propagent est au cœur du concept du test. Les testeurs industriels ont depuis toujours été construits pour mesurer les signaux numériques.
Le développement de ces testeurs dans l’industrie a continué à évoluer autour de la vérification de ces signaux numériques même si la structure du circuit à tester comprenait des structures analogiques, mixtes ou encore radio fréquence. Même le test intégré est resté profondément numérique. Une des raisons majeures est l’absence de modèle efficace pour effectuer le test autrement qu’avec les signaux numériques. Or aujourd’hui on assiste à de l’intégration de nouveaux signaux en plus des signaux numériques ou analogiques. Les signaux photoniques, par exemple, sont déjà omniprésents dans certains systèmes à haute vitesse comme dans les plateformes de superordinateurs. La tendance est aussi vers les liens optiques inter-chips et à plus long terme inter-chip. La micro- ou nano- fluidique est aussi présente dans des systèmes pour des applications de recherche médicale et de recherche pharmaceutique. La complexité de test de tous ces ‘nouveaux’ signaux est galopante et il est important d’adresser ce problème au plus vite. Cette présentation dresse un bilan en donnant quelques exemples de test de ces signaux en partant du principe que le test industriel restera basé sur la vérification de signaux numériques.

Adam Osseiran is Associate Professor at Edith Cowan University in Perth and Director of the National Networked TeleTest Facility for Integrated Systems, a Major National Research Facility Program funded by the Australian Federal Government and the Western Australian State Government. He received his B.Sc. (1981) and M.Sc. (1982) from the University Joseph Fourier in Grenoble-France. He received his Ph.D. (1986) from the INPG, National Polytechnic Institute of Grenoble in France. From 1987 to 1999 he was with the Swiss Federal Institute of Technology, EPFL (Lausanne). He was involved in major R&D Design and Test projects and organised seminars and tutorials for the Swiss industry in various technical fields related to microelectronics. In January 1995 he became Professor of microelectronics at the Engineering Institute of Geneva-Switzerland. In 1999 he became the European Technical Manager for Opmaxx Ltd from Oregon, USA and participated in its transformation into Fluence Technology. In 2000 he became Technical then Sales Director at Integrated Measurement Systems (IMS), Oregon based company specialised in the Design for Test and Built-In Self-Test techniques for digital and mixed-signal Integrated Circuits, Adam Osseiran holds 4 patents in the fields of electronic and photonic designs. Adam served as General Chair, Program Chair and Steering Committee member of several international conferences such as IMSTW, DELTA, VLSI-SOC, IDT and EWME and TPC member of numerous conferences. From 2000 to 2005 he was the Chair of the International Working Group of the IEEE Std 1149.4 Mixed-Signal Test Bus Standard. He is currently chairperson of the WA IEEE EDS/SSCS/LEOS Chapter and is a Senior IEEE member. Adam Osseiran is Editor of “Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan, A guide to the IEEE 1149.4 Test Standard”, published in 1999 by Kluwer Academic Publisher. He is the co-editor of a book entitled “VLSI-SOC: From Systems to Silicon” published in September 2007 by Springer Publisher.