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SYSMIC: Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

L'évolution de la microélectronique a conduit les circuits intégrés à devenir des véritables systèmes sur puce toujours plus complexes et hétérogènes. La conception, la vérification et la réalisation de tels systèmes génèrent un grand nombre de défis scientifiques majeurs qui doivent être relevés pour permettre le développement de systèmes plus rapides, plus fiables, moins énergivore, et capables de réaliser un grand nombre de fonctions pour un encombrement réduit. L'activité de l'équipe SysMIC couvre l'ensemble des domaines de la conception et du test des systèmes intégrés, allant du transistor à l’architecture haut niveau, en s’attachant à résoudre les problèmes spécifiques de certaines applications.

Thèmes de Recherche

Cette activité de l'équipe est structurée autour de 5 thèmes :

Ces thèmes fédérateurs sont abordés de manière complémentaire par 8 groupes de recherche dont le détail de l'activité est décrit dans la partie activité scientifique de cette fiche.

Organisation et Groupes de Recherche

Les 5 thèmes scientifiques de l'équipe sont traités de manière complémentaire par les 8 groupes de recherche de SysMIC comme illustré par la matrice suivante :

tableauSys

Groupes de Recherche

Members

Permanents

No permanents

Publications majeures

  • B. Alandry, L. Latorre, F. Mailly, and P. Nouet, A Fully Integrated Inertial Measurement Unit: Application to Attitude and Heading Determination, doi: 10.1109/JSEN.2011.2170161, IEEE Sensors Journal, Volume 11, Issue 11 (2011), p. 2852-2860. 
  • Ost L., Garibotti R., Sassatelli G., Marchesan Almeida G., Busseuil R., Butko A., Robert M., Becker J, « Novel Techniques for Smart Adaptive Multiprocessor SoCs », IEEE TC: IEEE Transactions on Computers, à paraître Mai 2013.
  • Z. Wu, P.Maurine, N. Azemard, G. Ducharme. "Delay-correlation-aware SSTA based on conditional moments", Microelectronics Journal, Vol.43, Issue 4, April 2012, p.263-276.
  • G. Di Natale, M. Doulcier, M. L. Flottes, B. Rouzeyre, « Self-Test Techniques for Crypto-Devices », IEEE Transaction on VLSI Systems, pp. 1-5, DOI: 10.1109/TVLSI, 2009.
  • V. Kerzérho, M. Comte, F. Azaïs, P. Cauvet, S. Bernard, and M. Renovell, “Digital Test Method for Embedded Converters with Unknown-Phase Harmonics,” Journal of Electronic Testing : Theory and Application (JETTA), June 2011, Vol. 27, Issue 3, pp. 335-350, 2011
  • A. Todri, A. Bosio, L. Dilillo, P. Girard et A. Virazel, “Uncorrelated Power Supply Noise and Ground Bounce Consideration for Test Pattern Generation”, IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol. 21, N° 5, pp. 958-970, May 2013.

Publications de l'équipe à partir de 2008

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Tags

Test, Modélisation, Système Adaptatif, MEMs, Sécurité, Système Intégré Complexe, Système Intégré Hétérogène, Conception

Last update on 27/11/2014