Bruno
Rouzeyre
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Giorgio DINALE, PhD from
Politecnico di Torino, Italy, currently researher CNRS
- Rodrigo POSSAMAI BASTOS
- Hakim ZIMOUCHE
- Joao AZEVEDO
- Feng LU
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Manikandan Palamanichamani , Phd from Trondheim University, Norway
- Mathieu Da Silva
- Emanuele VALEA
- C. HERAUD "Conception et réalisation d'un
moniteur graphique de Grafcets hiérarchisés et structurés". Soutenue le
17 Décembre 1985.
- D. TAIS-LAILHUGUE "Etude et réalisation d'un outil de conception de systèmes logiques complexes" Soutenue le 16 Janvier 1987.
- M. DURUPT "Le compilateur de coprocesseurs 'SCOOP', architectures opératives et leur génération" Soutenue le 16 Décembre 1987.
- F. FRANCON "Le compilateur de coprocesseurs 'SCOOP', génération de l'automate de contrôle" Soutenue le 16 Décembre 1987.
- G. TARROUX "Etude, conception et optimisation de microséquenceurs". Soutenue le 13 Mai 1991.
- F. MONTEIRO "Partitionnement
multicritères des parties opératives en compilation d'architectures".
Soutenue le 17 Septembre 1992.
- D. DUPONT "Synthèse d'architectures de
circuits intégrés, ordonnancement et partitionnement dans MACH".
Soutenue le 24 Novembre 1994.
- D. HAMMAD "Test et synthèse d'architectures de circuits intégrés numériques". Soutenue le 27 Septembre 1995.
- C. VIAL "Conception conjointe logiciel/matériel ". 1er Octobre 1994 - Décembre 1997.
- R. PIRES "Techniques de D.F.T. au niveau architectural". Soutenue le 17 juillet 1998.
- L. VOLPE " Conception en vue du test : du
niveau comportemental au niveau transfert de registres ". Soutenue le
26 Novembre 1999.
- D. BERTHELOT "Bist et synthèse". Soutenue le 12 Décembre 1999.
- J. POUGET "Test des Systèmes sur Puce :
Ordonnancement et Exploration des Solutions Architecturales". Soutenue
le 8 novembre 2002.
- R POIRIER "Compression des données de test pour le test des circuits intégrés". Soutenue le 26 novembre 2004.
- S. RAHIM "Techniques formelles pour la
preuve d'équivalence de circuits séquentiels". Soutenue le 5 Juillet
2004. Direction B. Rouzeyre
- D. HELY "Test de circuits sécurisés". Soutenue le 4 Décembre 2005.
- J. DALMASSO "Compression/Décompression de données de test pour les SoCs". Soutenue le 1er octobre 2010
- M. DOULCIER "Test intégré de circuits cryptographiques". Soutenue le 24 Novembre 2008.
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Kahoutar BOUSSELAM "Résistance des circuits cryptographiques aux attaques en faute". 25 septembre 2012.
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Jean DAROLT "Testabilité vs sécurité : nouvelles attaques par chaine de scan et contre-mesures". 14 décembre 2012.
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Feng LU "Simulation de fautes par laser dans les circuits cryptographiques". 14 octobre 2014.
- Yassine FKIH "Conception en vue du test des circuits intégrés 3D à base de TSVs". 14 novembre 2014.
- Stephan De Castro " Simulations et modélisation de fautes laser". 25 mars 2016.
- Papa Sidy Ba "Détection et Prévention de Chevaux de Troie Matériels
par des Méthodes Orientées Test Logique", 02 décembre/2016.
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