IC testing in the semiconductor lifecycle (Le test de +circuits intégrés dans le cycle de vie des semiconducteurs)
| Conférencier | Julien Guintrand (Advantest) |
| Date | mer. 27/11, 9h45-13h00 |
| Organisateur | Mariane Comte |
Résumé Les semiconducteurs sont au centre de notre monde. Transports décarbonés, industrie 4.0, communications et émergence de l'IA... Ils sont au centre du développement de nos sociétés. Pourtant, peu de personnes connaissent les entreprises qui façonnent cette industrie, et encore moins les étapes du cycle de vie des puces électroniques. Durant cette présentation, nous commencerons par expliquer les évolutions du marché des semiconducteurs et de ses acteurs (IDM, Fabless, IDM, EDA...) à l'horizon 2030 ainsi que les défis qui s'annoncent, notamment pour l'Europe. Nous résumerons ensuite le cycle de vie d'une puce, du silicium au produit final. Industrie extrêmement complexe, la fabrication de systèmes intégrés nécessite une caractérisation de chaque nouveau produit et un contrôle de la qualité : c'est ce que permet l'utilisation de testeurs industriels à des étapes clés. Qu'est-ce qu'un testeur industriel ? En quoi les tests analogiques, numériques et RF aident les industriels à garantir la qualité de leurs produits ? Comment la data et l'IA sont utilisées pour améliorer les rendements et la qualité des usines ?... Vous trouverez les réponses à ces questions dans cette présentation.