Forensic d'appareil photo
sujet 2011-2012
Encadrant : Marc Chaumont
marc.chaumont@lirmm.fr
Laboratoire d'Informatique, de
Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Equipe ICAR
sujet (pdf)
Mots clefs : forensic
(criminalistique), Photo-Response Non-Uniformity, stéganalyse.
Chaque appareil photo possède un
capteur de lumière (CCD ou CMOS) qui est composé de silicium et qui lui est propre.
Ce « morceau » de silicium introduit une empreinte (fingerprint) qui se retrouve au sein des
images numériques. On appelle PRNU (Photo-Response Non-Uniformity) cette empreinte.
Il existe plusieurs méthodes pour déterminer le PRNU [Fridrich2009,
Fridrich2008]. A partir du PRNU, il est possible d’identifier l’appareil ayant
pris une image, ou de déterminer si deux images ont été prise par le même
appareil, …
L’objectif du stage n’est pas de
faire de la criminalistique (forensic) mais plutôt d’utiliser le PRNU dans le
cadre de la stéganalyse (voir autre sujet proposé). Pour ce stage, nous
reprendrons la littérature récente sur le calcul de PRNU [Cortiana2011, Kang2011, …],
et nous proposerons une méthode de filtrage adaptée à la stéganalyse.
Références :
[Fridrich2009] J.
Fridrich, “Digital Image Forensic Using Sensor Noise”, IEEE
Signal Processing Magazine, vol. 26, no. 2, March 2009, pp. 26-37.
[Fridrich2008] J. Fridrich, M. Chen, M. Goljan, and
J. Lukas, “Determining Image Origin and
Integrity Using Sensor Noise”, IEEE
Transactions on Information Security and Forensics, 3(1), pp. 74-90, March 2008.
[Cortiana2011]
A. Cortiana, V. Conotter, G. Boato, F. G. B. De Natale, “Performance comparison of denoising filters
for source camera identification”, Media Watermarking, Security, and Forensics
III, Part of IS&T/SPIE 21th Annual Symposium on Electronic Imaging,
SPIE'2011, Volume 7880, Number 05, San Francisco, California, USA, Feb 2011.
[Kang2011]
X. Kang, Y. Li, Z. Qu, J. Huang, “Enhancing
ROC performance of trustworthy camera source identification”, Media Watermarking, Security, and
Forensics III, Part of IS&T/SPIE 21th Annual Symposium on Electronic
Imaging, SPIE'2011, Volume 7880, Number 07, San Francisco, California, USA, Feb
2011.
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