Test

Le domaine du test couvre plusieurs problématiques scientifiques : le test de production pour vérifier qu'un circuit intégré est fonctionnel après fabrication et le test in situ pour s'assurer que la fonctionnalité du circuit est préservée dans le temps quand le circuit est dans son application finale. Avec l'évolution permanente de la technologie et la forte augmentation de la complexité et de l'hétérogénéité des circuits et systèmes intégrés, ces problématiques sont de réels défis scientifiques.

Trois approches complémentaires permettent de répondre à ces défis :

  • le développement de méthodes ou structures permettant de faciliter le test du circuit
  • la définition de modèles de défauts et de fautes qui soient à la fois réalistes et viables à utiliser en termes de complexité
  • le développement de techniques permettant d'améliorer la fiabilité.

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Dernière mise à jour le 29/08/2013